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高頻介電常數介質損耗測試儀
| 參考價 | ￥16000-￥59000 | /件 |
具體成交價以合同協議為準
- 型號
-
品牌
AIRTIMES/中航時代
-
廠商性質
生產商
-
所在地
北京市
更新時間：2024-08-17 13:40:33瀏覽次數：2164
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產品簡介
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀儀器介紹
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的,，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試,。
技術參數
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用,、多用途,、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz,。 ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術：
1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描,、自動調諧搜索功能。
2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入,。
3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,，數碼化電容調諧。
4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值,、諧振點頻率和電容的自動測量,。
5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感,、 Q 值,、信號源頻率、諧振指針,。
6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定,。
7 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低,，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計,，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員,、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,，測量值更為精確，測量效率更高,。使用者能在儀器給出的任何頻率,、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位
主要技術特性
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ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的,，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試,。
技術參數
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用,、多用途,、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz,。 ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術：
1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描,、自動調諧搜索功能。
2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入,。
3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,，數碼化電容調諧。
4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值,、諧振點頻率和電容的自動測量,。
5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感,、 Q 值,、信號源頻率、諧振指針,。
6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定,。
7 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低,，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計,，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員,、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,，測量值更為精確，測量效率更高,。使用者能在儀器給出的任何頻率,、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位
主要技術特性
| Q 值測量范圍 | 2 ～ 1023 ,量程分檔： 30 ,、 100 ,、 300 、 1000,自動換檔或手動換檔 |
| 固有誤差 | ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％(200kHz ～ 10MHz ),≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 工作誤差 | ≤7％ ± 滿度值的2％( 200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 電感測量范圍 | 4.5nH ～ 140mH |
| 電容直接測量范圍 | 1 ～ 200pF |
| 主電容調節(jié)范圍 | 18 ～ 220pF |
| 主電容調節(jié)準確度 | 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％ |
| 信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ～ 160MHz |
| 頻率分段(虛擬) | 100 ～ 999.999kHz ,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz |
| 頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個字 |
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