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產品詳細

介電常數介質損耗測定儀（介電性能測試儀）

產品型號：
參考價：18000元
廠商性質：3
所在地：北京市
發(fā)布時間：2022/4/18 14:32:50
瀏覽次數：6287

具體成交價以合同協(xié)議為準

詳細介紹

　　一,、符合標準：

　　GB/T1409測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法;

　　GB/T 5654-2007液體絕緣材料相對電容率,、介質損耗因數和直流電阻率的測量;

　　二、產品概述：

　　ZJD-87介電常數介質損耗測定儀（介電性能測試儀）是一款專為實驗室研制的高精度高壓電橋,，突破了傳統(tǒng)的電橋測量方式,，采用變頻電源技術，利用單片機和現代化電子技術進行自動頻率變換,、模/數轉換和數據運算,；達到抗干擾能力強,、測試速度快,、精度高、全自動數字化,、操作簡便,；廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器,、套管,、電容器、避雷器等設備及相關絕緣材料的介損和介電常數的測量,。

　　三,、技術指標：

　　準確度：Cx:±(讀數×0.5%+0.5pF)；

　　tgδ:±(讀數×0.5%+0.00005),；ε：0.5%,；

　　抗干擾指標：變頻抗干擾(40-70Hz)，最大輸入電流5A,；

　　內置最高10KV測試電壓輸出,，可調分辨率1V；

　　電容量范圍：內施高壓：3pF～60000pF/10kV,；60pF～1μF/0.5kV,；

　　外施高壓：3pF～1.5μF/10kV；60pF～30μF/0.5kV,；

　　外接量程擴展器時可以測試幾千安培下高壓電器的介損值,；

　　分辨率：最高0.001pF，4位有效數字；

　　計算機接口：標準RS232接口,；

　　外形尺寸：8U標準機箱,；

　　儀器重量：25kg；

　　離子位移極化—— Ionic Polarization

　　電介質中的正負離子在電場作用下發(fā)生可逆的彈性位移,。正離子沿電場方向移動,，負離子沿反電場方向移動。由此形成的極化稱為離子位移極化,。

離子在電場作用下偏移平衡位置的移動相當于形成一個感生偶極矩,。

　　離子位移極化所需時間大約為10-12～10-13秒。不以熱的形式耗散能量,，不導致介電損耗,。

　　介電常數介質損耗測定儀（介電性能測試儀）

　　•損耗的形式

　　•介質損耗的表示方法

　　•介質損耗和頻率、溫度的關系

　　•無機介質的損耗

　　介質損耗定義：

　　電介質在單位時間內消耗的能量稱為電介質損耗功率,，簡稱電介質損耗,。或：電場作用下的能量損耗,，由電能轉變?yōu)槠渌问降哪?，如熱能、光能等,，統(tǒng)稱為介質損耗,。它是導致電介質發(fā)生熱擊穿的根源。

　　損耗的形式：

　　電導損耗：在電場作用下,，介質中會有泄漏電流流過,，引起電導損耗。實質是相當于交流,、直流電流流過電阻做功,，故在這兩種條件下都有電導損耗。絕緣好時,，液,、固電介質在工作電壓下的電導損耗是很小的，

　　極化損耗：只有緩慢極化過程才會引起能量損耗,，如偶極子的極化損耗,。

　　游離損耗：氣體間隙中的電暈損耗和液、固絕緣體中局部放電引起的功率損耗稱為游離損耗,。

　　介質損耗的表示：

　　當容量為C0=?0S/d的平板電容器上加一交變電壓U=U0eiwt,。則：

1、電容器極板間為真空介質時,，電容上的電流為：

2,、電容器極板間為非極性絕緣材料時,，電容上的電流為：

3、電容器極板間為弱導電性或極性,，電容上的電流為：

G是由自由電荷產生的純電導,，G=?S/d， C=?S/d

　　如果電荷的運動是自由的,，則G實際上與外電壓額率無關,；如果這些電荷是被符號相反的電荷所束縛，如振動偶極子的情況,，G 為頻率的函數,。

介質弛豫和德拜方程：

　　1)介質弛豫：在外電場施加或移去后，系統(tǒng)逐漸達到平衡狀態(tài)的過程叫介質弛豫,。介質在交變電場中通常發(fā)生弛豫現象,，極化的弛豫。在介質上加一電場,，由于極化過程不是瞬時的,，極化包括兩項：

　　P(t) = P0 + P1(t)

P0代表瞬時建立的極化(位移極化)， P1代表松弛極化P1(t)漸漸達到一穩(wěn)定值,。這一滯后通常是由偶極子極化和空間電荷極化所致,。當時間足夠長時， P1(t)→ P 1 ∞ ,，而總極化P(t) → P∞ ,。

2)德拜(Debye)方程：

　　頻率對在電介質中不同的馳豫現象有關鍵性的影響,。設低頻或靜態(tài)時的相對介電常數為ε(0),，稱為靜態(tài)相對介電常數；當頻率ω→∞時,，相對介電常數εr’ →ε∞( ε∞代表光頻相對介電常數),。則復介電常數為：

影響介質損耗的因素：

　　1、頻率的影響

　　ω→0時,，此時不存在極化損耗,主要由電導損耗引起,。 tgδ=δ/ωε，則當ω→0時,， tgδ→∞,。隨著ω升高，tgδ↓,。

　　隨ω↑,，松弛極化在某一頻率開始跟不上外電場的變化，松弛極化對介電常數的貢獻逐漸減小,，因而εr隨ω↑而↓,。在這一頻率范圍內,，由于ωτ <<1，故tgδ隨ω↑而↑,。

　　當ω很高時,，εr→ε∞，介電常數僅由位移極化決定,，εr趨于最小值,。由于ωτ >>1，此時tgδ隨ω↑而↓,。 ω→∞時,，tgδ→0。

tgδ達最大值時ωm的值由下式求出:

　　tgδ的最大值主要由松弛過程決定,。如果介質電導顯著變大,，則tgδ的最大值變得平坦，最后在很大的電導下,，tgδ無最大值,，主要表現為電導損耗特征：tgδ與ω成反。

2,、溫度的影響

　　當溫度很低時,τ較大,，由德拜關系式可知，εr較小,，tgδ也較小,。此時，由于ω2τ2>>1,由德拜可得：

隨溫度↑,，τ↓,，所以εr、tgδ↑

　　當溫度較高時,，τ較小,，此時ω2τ2<<1

隨溫度↑，τ↓,，所以tgδ ↓,。這時電導上升并不明顯，主要決定于極化過程：

　　當溫度繼續(xù)升高,，達到很大值時,，離子熱運動能量很大，離子在電場作用下的定向遷移受到熱運動的阻礙,，因而極化減弱,，εr↓。此時電導損耗劇烈↑,，tgδ也隨溫度 ↑而急劇上升↑,。

3.濕度的影響

　　• 介質吸潮后,，介電常數會增加，但比電導的增加要慢,，由于電導損耗增大以及松馳極化損耗增加,，而使tgδ增大。

　　• 對于極性電介質或多孔材料來說,，這種影響特別突出,，如，紙內水分含量從4%增加到10%時,，其tgδ可增加100倍,。

　　降低材料的介質損耗的方法

　　(1)選擇合適的主晶相：盡量選擇結構緊密的晶體作為主晶相。

　　(2)改善主晶相性能時,，盡量避免產生缺位固溶體或填隙固溶體,，最好形成連續(xù)固溶體。這樣弱聯(lián)系離子少,，可避免損耗顯著增大,。

　　(3)盡量減少玻璃相。有較多玻璃相時,，應采用“中和效應"和“壓抑效應",，以降低玻璃相的損耗。 (4)防止產生多晶轉變,，多晶轉變時晶格缺陷多,，電性能下降，損耗增加,。

　　(5)注意焙燒氣氛,。含鈦陶瓷不宜在還原氣氛中焙燒。燒成過程中升溫速度要合適,，防止產品急冷急熱,。

　　(6)控制好最終燒結溫度，使產品“正燒",，防止“生燒"和“過燒"以減少氣孔率。此外,，在工藝過程中應防止雜質的混入,，坯體要致密。

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