一,、特點(diǎn)

1,、電子器件溫度循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī)分高溫區(qū),、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)*靜止,，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試；既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用,；    
2,、可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線測(cè)試部件；    
3,、大型彩色LCD觸控對(duì)話式微電腦控制系統(tǒng),，操作簡(jiǎn)單易懂，運(yùn)行狀態(tài)一目了然,；    
4,、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng)；    
5,、具有RS-232或RS-485通訊接口,，可連接電腦遠(yuǎn)程操控，使用便捷,；    
6,、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),，可選擇2槽或3槽之功能，并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能,；    
7,、可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱,、待機(jī)功能,；    
8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),，自動(dòng)（手動(dòng)）除霜；    
9,、采用日本OYO控制器人機(jī)界面友好,，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊全,。   

二,、試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)

1、試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)形式：試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，既試驗(yàn)箱由位于后下部的高溫試驗(yàn)箱,，位于后上部的低溫試驗(yàn)箱體位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜（系統(tǒng)）所組成,。此方式箱體占地面積小,結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀,，制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi),。

2、箱體外材料：冷軋板防靜電噴塑烤漆處理／SUS304不銹鋼板 

3,、箱體內(nèi)材料：SUS304鏡面不銹鋼板／SUS304不銹鋼板

4,、保溫材料：硬質(zhì)發(fā)泡１級(jí) 

5、電纜穿線孔：在樣品架的上部與高溫試驗(yàn)箱體頂部設(shè)置有滑動(dòng)式電纜穿線管,。

6,、樣品架承重：≥3Kｇ.

三、電子器件溫度循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2. GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3. GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4. GB2423.1 低溫試驗(yàn),、試驗(yàn)A

5. GB2423.2 高溫試驗(yàn),、試驗(yàn)B

6. GB2423.22 溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N

7. IEC68-2-14 試驗(yàn)N

8. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

9. GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

四,、技術(shù)參數(shù)

1,、溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃ 

2、溫度上限：+170℃ 

3,、溫度下限：-70℃ 

4,、溫度偏差：±2℃ 

5、溫度波動(dòng)度：±0.5℃ 

6,、溫度恢復(fù)時(shí)間：5min 

7,、溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min.

8、試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng) 

9,、試品重量：≤3kg 

10,、高溫室升溫時(shí)間：30min （+25℃～+170℃） 

11、低溫室降溫時(shí)間：65min （+25℃～-55℃） 

12,、噪音：（dB）≤65 

13,、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護(hù)接地 

14、總功率：7KW