高阻表4349B高阻表4349B高阻表4349B高阻表4349B美國安捷倫4349B阻抗分析儀的功能介紹：Agilent 4349B增加測(cè)試吞吐率，同時(shí)對(duì)4通道絕電阻進(jìn)行測(cè)量,。安捷倫4349B可同時(shí)對(duì)4通道多個(gè)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量,增加測(cè)試吞吐率,。測(cè)量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω,基本精度為2%,具有接觸檢查功能 美國安捷倫4349B阻抗分析儀的技術(shù)參數(shù)：測(cè)量速度9.5ms的測(cè)量速度4個(gè)通道，可用于多個(gè)被測(cè)件4個(gè)通道同時(shí)測(cè)試快速接觸檢查：2毫秒/點(diǎn)GPIB和處理器接口

·  測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻）,、I（直流電流）,、ps（表面電阻率），pv（體電阻率）,。

·  測(cè)量范圍：電阻1*103Ω 至 1x1015Ω,；電流1pA至100uA。

·  測(cè)量速度：***快9.5ms的測(cè)量時(shí)間,。

·  基本測(cè)量精度：2%,。

·  4個(gè)通道，可用于多個(gè)被測(cè)件,，4個(gè)通道可同時(shí)測(cè)試,。

·  接觸檢查功能：可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障，2毫秒/點(diǎn),，保證可靠的測(cè)試

精度：2%

美國安捷倫4349B阻抗分析儀其他：

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