一,、產(chǎn)品用途：
（1） 金屬、半導體,、導電高分子薄膜（塊體）電阻率的測量,；
（2） 金屬薄膜材料電阻率的測量（zui大厚度0.2毫米）；金屬塊體材料電阻率的測量（zui大厚度6毫米）
二,、儀器組成：
1,、 四探針組件
由具有引線的四根探針組成。
2,、 SB118精密直流電流源
輸出電流10-6~0.2安培范圍內(nèi)可調(diào),。
3、 直流數(shù)字電壓表
直流數(shù)字電壓表是具有6位半字長,、0.1為微伏電壓分辨率的帶單片微機處理技術(shù)的高精度電子測量儀器,。
三技術(shù)參數(shù)：

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，它們的測量采用四端接線法,。為了滿足實際的需要,，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體,、導電高分子材料的電阻率的測量,。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
（使用環(huán)境5—40℃,，相對濕度<80%,，供電220V  50Hz，為實驗室環(huán)境使用）
由直流電壓電流源,、直流數(shù)字電壓表,、四探針樣品測試平臺三部分組成。
直流電壓電流源：
是一臺4?位的電壓源及電流源,，既可輸出5μV—50V,，5檔可調(diào)電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA,，5檔可調(diào)電流,，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）,。
直流數(shù)字電壓表：具有6?位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術(shù)的高精度電子測量儀器,，可測量0-1000V直流電壓,。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS）,，詳見本公司產(chǎn)品PZ158A,。
四探針樣品測試平臺：該測試平臺是SB120/1測試平臺的改進型。其有底座,、支架,、旋動部件、樣品平臺,、四探針及接線板等組成,。由于其整個結(jié)構(gòu)及旋動方式都在原SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試,、研究提供了較大的方便,。