除了三種常見的三種工作模式外，原子力顯微鏡還可以進(jìn)行下面的工作：
1,、橫向力顯微鏡（LFM）
橫向力顯微鏡（LFM）是在原子力顯微鏡（AFM）表面形貌成像基礎(chǔ)上發(fā)展的新技術(shù)之一,。工作原理與接觸模式的原子力顯微鏡相似。當(dāng)微懸臂在樣品上方掃描時,，由于針尖與樣品表面的相互作用,，導(dǎo)致懸臂擺動，其擺動的方向大致有兩個：垂直與水平方向,。一般來說,，激光位置探測器所探測到的垂直方向的變化，反映的是樣品表面的形態(tài),，而在水平方向上所探測到的信號的變化,，由于物質(zhì)表面材料特性的不同，其摩擦系數(shù)也不同,，所以在掃描的過程中,，導(dǎo)致微懸臂左右扭曲的程度也不同,，檢測器根據(jù)激光束在四個象限中,，（A+C）-（B+D）這個強(qiáng)度差值來檢測微懸臂的扭轉(zhuǎn)彎曲程度。而微懸臂的扭轉(zhuǎn)彎曲程度隨表面摩擦特性變化而增減（增加摩擦力導(dǎo)致更大的扭轉(zhuǎn)）,。激光檢測器的四個象限可以實(shí)時分別測量并記錄形貌和橫向力數(shù)據(jù),。
2、曲線測量
SFM除了形貌測量之外,，還能測量力對探針-樣品間距離的關(guān)系曲線Zt（Zs）,。它幾乎包含了所有關(guān)于樣品和針尖間相互作用的必要信息。當(dāng)微懸臂固定端被垂直接近,，然后離開樣品表面時,，微懸臂和樣品間產(chǎn)生了相對移動。而在這個過程中微懸臂自由端的探針也在接近,、甚至壓入樣品表面,，然后脫離，此時原子力顯微鏡（AFM）測量并記錄了探針?biāo)惺艿牧?，從而得到力曲線,。Zs是樣品的移動,，Zt是微懸臂的移動。這兩個移動近似于垂直于樣品表面,。用懸臂彈性系數(shù)c乘以Zt,，可以得到力F=c·Zt。如果忽略樣品和針尖彈性變形,，可以通過s=Zt-Zs給出針尖和樣品間相互作用距離s,。這樣能從Zt（Zs）曲線決定出力-距離關(guān)系F（s）。這個技術(shù)可以用來測量探針尖和樣品表面間的排斥力或長程吸引力,，揭示定域的化學(xué)和機(jī)械性質(zhì),，像粘附力和彈力，甚至吸附分子層的厚度,。如果將探針用特定分子或基團(tuán)修飾,，利用力曲線分析技術(shù)就能夠給出特異結(jié)合分子間的力或鍵的強(qiáng)度，其中也包括特定分子間的膠體力以及疏水力,、長程引力等,。
3、納米加工
掃描探針納米加工技術(shù)是納米科技的核心技術(shù)之一,，其基本的原理是利用SPM的探針－樣品納米可控定位和運(yùn)動及其相互作用對樣品進(jìn)行納米加工操縱,，常用的納米加工技術(shù)包括：機(jī)械刻蝕、電致/場致刻蝕,、浸潤筆（Dip-PenNano-lithography,，DNP）等。
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