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原子力顯微鏡的分類及優(yōu)缺點(diǎn)

閱讀:1869      發(fā)布時間:2023-4-14
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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM),,一種可用來研究包括導(dǎo)體,、半導(dǎo)體和絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它的橫向分辨率可達(dá)0.15m,,而縱向分辨率可達(dá)0.05m,,AFM最大的特點(diǎn)是可以測量表面原子之間的力,AFM可測量的最小力的量級為10-14 -10-16 N,。AFM還可以測量表面的彈性,,塑性、硬度,、黏著力等性質(zhì) ,,AFM還可以在真空,大氣或溶液下工作,,也具有儀器結(jié)構(gòu)簡單的特點(diǎn),,在材料研究中獲得了廣泛的研究。
 
它與其他顯微鏡相比有明顯不同,,它用一個微小的探針來”摸索”微觀世界,,AFM超越了光和電子波長對顯微鏡分辨率的限制,在立體三維上觀察物質(zhì)的形貌,,并能獲得探與樣品相互作用的信息,,典型AFM的側(cè)向分辨率(x,,y)可達(dá)到2nm,垂直分辯牢(方間)小于0,。1mmAFM具有操作客易,、樣品準(zhǔn)備簡單、操作環(huán)境不受限制,、分辨率高等優(yōu)點(diǎn),。
 
原子力顯微鏡的分類
AFM探針基本都是由MEMS技術(shù)加工 Si 或者 Si3N4來制備。探針針尖半徑一般為10到幾十nm,。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成,。典型的硅微懸臂大約100μm長、10μm寬,、數(shù)微米厚,。
 
利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發(fā)了各種不同應(yīng)用領(lǐng)域的顯微鏡,如AFM(范德法力),,靜電力顯微鏡EFM(靜電力)磁力顯微鏡MFM(靜磁力)側(cè)向力顯微鏡LFM(探針側(cè)向偏轉(zhuǎn)力)等,, 因此有對應(yīng)不同種類顯微鏡的相應(yīng)探針。
 
原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種:
 
1.非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針:常用的產(chǎn)品,,分辨率高,,使用壽命一般。使用過程中探針不斷磨損,,分辨率很容易下降,。主要應(yīng)用與表面形貌觀察。
 
2.導(dǎo)電探針:通過對普通探針鍍10-50納米厚的Pt(以及別的提高鍍層結(jié)合力的金屬,,如Cr,,Ti,Pt和Ir等)得到,。導(dǎo)電探針應(yīng)用于EFM,,KFM,SCM等,。導(dǎo)電探針分辨率比tapping和contact模式的探針差,,使用時導(dǎo)電鍍層容易脫落,導(dǎo)電性難以長期保持,。導(dǎo)電針尖的新產(chǎn)品有碳納米管針尖,,金剛石鍍層針尖,全金剛石針尖,,全金屬絲針尖,,這些新技術(shù)克服了普通導(dǎo)電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點(diǎn)。
 
3.磁性探針:應(yīng)用于MFM,,通過在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co,、Fe等鐵磁性層制備,,分辨率比普通探針差,使用時導(dǎo)電鍍層容易脫落,。
 
原子力顯微鏡的優(yōu)缺點(diǎn)
 
1.優(yōu)點(diǎn)
原子力顯微鏡觀察到的圖像相對于掃描電子顯微鏡,原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn),。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像,,AFM提供真正的三維表面圖。同時,,AFM不需要對樣品的任何特殊處理,,如鍍銅或碳,這種處理對樣品會造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害,。第三,,電子顯微鏡需要運(yùn)行在高真空條件下,原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作,。這樣可以用來研究生物宏觀分子,,甚至活的生物組織。
 
2.缺點(diǎn)
和掃描電子顯微鏡(SEM)相比,,AFM的缺點(diǎn)在于成像范圍太小,,速度慢,受探頭的影響太大,。原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope)是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,,可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測,或者直接進(jìn)行納米操縱,;現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,、納米功能材料、生物,、化工,、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中,,成為納米科學(xué)研究的基本工具,。原子力顯微鏡與掃描隧道顯微鏡相比,由于能觀測非導(dǎo)電樣品,,因此具有更為廣泛的適用性,。當(dāng)前在科學(xué)研究和工業(yè)界廣泛使用的掃描力顯微鏡(Scanning Force Microscope),其基礎(chǔ)就是原子力顯微鏡,。

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