高低溫沖擊試驗箱

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l 適用于電工,、電子零部件、半導體,、電子線路板,、金屬材料、軸承,、顯示屏等各種材料,，在溫度急劇變化環(huán)境下對產品的破壞性能試驗；

l 試驗箱上部為高溫區(qū),，下部為低溫區(qū),，試件放置在試驗箱中部工作室內，高溫沖擊時上風門打開,，形成高溫內循環(huán),。低溫沖擊時，上風門關閉,，下風門打開,，形成低溫內循環(huán)，如有需要還可以與環(huán)境溫度連通,，形成三箱法實驗,；試件靜止不動，避免了因試件移動帶來之諸多不便,；

l 中英文界面,，數(shù)字顯示，直觀易讀,；

l 溫度偏移修正,，滿足您更為準確的實驗要求；

l 主要零部件采用進口件,，確保試驗箱具有*的可靠性；

l 多重保護功能,，確保試驗箱具有*的可靠性,。

高低溫沖擊試驗箱 執(zhí)行及滿足標準

l GB-2423.1 低溫試驗方法；

l GB-2423.2 高溫試驗方法,；

l GB-2423.22 溫度沖擊試驗,；

l GJB150.5   溫度沖擊試驗；

l MIL-STD-810F-503.4

高低溫沖擊試驗箱技術參數(shù)高低溫沖擊試驗箱 ,、冷熱沖擊試驗箱,，高低溫沖擊試驗箱 ,、冷熱沖擊試驗箱，高低溫試驗箱

l 溫度波動度：≤±0.5℃

l 溫度偏差：≤±2℃

l 高溫室升溫時間：RT～200℃ ≤30min

l 低溫室降溫時間：RT～-60℃ ≤60min

l 溫度恢復 時 間：≤5min

l 風  門  開  啟：≤5s

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