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半自動四探針測試儀

采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導率,，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

FT-361超低阻雙電四探針測試儀

一,、概述：本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,，zui小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的zui小值,，采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結構合理,、質量輕便,，運輸安全、使用方便,；適用于生產企業(yè),、高等院校、科研部門,，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具,。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,，無需人工計算,，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,，無需人工多次和重復設置,。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據,，自動生成報表,；

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針,、電壓探針的變換，進行兩次電測量,，對數(shù)據進行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,，它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。選購：本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用,，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.

二、廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜,，高,、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽,、合金類箔膜;熔煉,、燒結、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊,、晶片電阻率及擴散層,、外延層、ITO導電箔膜,、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓,、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等）,，金屬膜,，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜,，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物,，導電性塑料,，導電性橡膠，導電性薄膜,，金屬薄膜,，抗靜電材料， EMI 防護材料,，導電性纖維,，導電性陶瓷等

三、低阻雙電四探針測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10^-6～2×10²Ω/□

2.電阻率范圍：10^-7～2×10³Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ,，1μA,，10μA，100µA.

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導率.

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 2.方形探頭,； 3.直線形探頭,； 4.測試平臺

11.測試探頭：  探針間距選購：1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針

 半自動四探針測試儀