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四探針電阻測(cè)試儀

四探針方塊電阻測(cè)試儀 軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù),，自動(dòng)生成報(bào)表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，

同時(shí)顯示液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度  四探針方塊電阻測(cè)試儀

四探針電阻測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

1.方塊電阻范圍：10^-4～2×10³Ω/□

2.電阻率范圍：10^-5～2×10⁴Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：10μA,，100μA,，1mA，10mA,，100 mA

4.電流精度：±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量

四探針電阻測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)描述：

采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng),、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

二.參照標(biāo)準(zhǔn)：

硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造,；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》,、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.

三.適用范圍：

適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具,；液晶顯示,，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能,，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,；采用AD芯片控制，恒流輸出,，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù),，生成報(bào)表