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FT-335四探針電阻率測(cè)試儀功能概述
  • FT-335四探針電阻率測(cè)試儀功能概述

貨物所在地:浙江寧波市

地: 湖南

更新時(shí)間:2025-06-05 08:43:22

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振實(shí)密度儀
粉體流動(dòng)性
粉體測(cè)試儀
粉體綜合特性測(cè)試儀
松裝密度儀
休止角測(cè)定儀
四探針測(cè)試儀
四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
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粉體/粉末/顆粒流動(dòng)性測(cè)試儀
密度儀/比重計(jì)
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體積密度儀
電壓降測(cè)試儀
粉末和顆粒流動(dòng)性測(cè)定儀
表觀密度測(cè)定儀
安息角測(cè)試儀
粉末電阻率測(cè)試儀
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粉體半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀
自動(dòng)壓實(shí)密度測(cè)試儀
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電線電纜電阻率測(cè)試儀
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接觸電阻測(cè)試儀
表面電阻測(cè)試儀
FT-335四探針電阻率測(cè)試儀功能概述
按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?

FT-335四探針電阻率測(cè)試儀功能概述

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-2~2×105Ω/□

2.電阻率范圍:10-3~2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍:0.1μA,,1μA,10μA,,100µA,,1mA,10mA,,100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)

10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件,; 選購(gòu)2.方形探頭,; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭:   探針間距選購(gòu):1mm,;2mm,;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

FT-335四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

 

FT-335四探針電阻率/方阻測(cè)試儀

按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》,、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰?/span>

GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),,本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口,,

 

本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng),、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,,

比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量,準(zhǔn)確.

本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門,,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料,。

液晶顯示,,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,,電阻率單位自動(dòng)選擇,,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置,。

采用高精度AD芯片控制,,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,,運(yùn)輸安全、使用方便,;選配:配備軟件可以由電腦操控,,并保存和打印數(shù)據(jù),

自動(dòng)生成報(bào)表,;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、

溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導(dǎo)率,,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,,高,、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、

合金類箔膜;熔煉、燒結(jié),、濺射,、涂覆、

涂布層,,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,,其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測(cè)試

 

FT-335四探針電阻率測(cè)試儀

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽(yáng)能電池,、電子元器件

,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),,金屬膜,,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,,PCB銅箔膜,,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,

導(dǎo)電性糊狀物,,導(dǎo)電性塑料,,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,,金屬薄膜,,抗靜電材料,

EMI 防護(hù)材料,,導(dǎo)電性纖維,,導(dǎo)電性陶瓷等

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