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FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀
FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸,、邊界效應,、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口,，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
二.參照標準standard：
硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準設計制造,；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
三.四探針方阻測試儀廠家適用范圍Applicable scope：
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校,、科研部門,，是檢驗和分析半導體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示,，自動測量和系數(shù)補償,，并帶有溫度補償功能，自動轉(zhuǎn)換量程,；采用AD芯片控制,，恒流輸出，選配：PC軟件,，保存和打印數(shù)據(jù),，生成報表
用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽,、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié)、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
四探針方阻測試儀廠家
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