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高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理
  • 高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理

貨物所在地:浙江寧波市

更新時(shí)間:2024-10-27 21:00:07

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振實(shí)密度儀
粉體流動(dòng)性
粉體測(cè)試儀
粉體綜合特性測(cè)試儀
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休止角測(cè)定儀
四探針測(cè)試儀
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材料電阻率測(cè)試儀
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電壓降測(cè)試儀
粉末和顆粒流動(dòng)性測(cè)定儀
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堆積密度測(cè)定儀
塑料流動(dòng)性測(cè)試儀
粉體半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀
自動(dòng)壓實(shí)密度測(cè)試儀
粉體壓縮性強(qiáng)度測(cè)試
智能粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)
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電線電纜電阻率測(cè)試儀
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極片電阻儀
接觸電阻測(cè)試儀
表面電阻測(cè)試儀
高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理,高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量。用于:企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶(棒料,、晶片)電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻,、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理

高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量

高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)

電阻測(cè)量范圍: 
1,、電阻率:
1×10-8~2×106Ω-cm
電   阻:1×10-8~2×106Ω

電導(dǎo)率:5 ×10-6~1×108ms/cm

分辨率:  zui小0.1μΩ  
測(cè)量誤差±(0.05%讀數(shù)±5字)
2,、測(cè)量電壓量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
   測(cè)量精度±(0.1%讀數(shù))

分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出:直流電流 0~10000mA 連續(xù)可調(diào),,由交流電源供電,。
   ⑵量程:1μA,10μA,,100μA,,1mA,10mA,,1000mA,10A量程可自動(dòng)轉(zhuǎn)換或者人工設(shè)定. 
   ⑶誤差:±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機(jī)外形尺寸:330mm*340mm*120mm

5,、顯示方式:液晶顯示

zui高溫度: 1200℃可調(diào)節(jié);沖溫值:≤1-3℃,;控溫精度:±1°C

11,、升溫速度:9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃;功率:3kw.

12,、爐膛材料:采用復(fù)合陶瓷纖維材料,,具有真空成型,高溫不掉粉的特征,。

高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理

 

概述:

采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制,,解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求,軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,,電阻率,,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

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