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ITO導(dǎo)電箔膜四探針方阻測試儀操作步驟,，改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng),、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確四探針測試儀

ITO導(dǎo)電箔膜四探針方阻測試儀操作步驟

適用范圍Widely used：

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,，高、低溫電熱膜;隔熱,、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié)、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

2.硅晶塊,、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽能電池、電子元器件,，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）,，金屬膜，導(dǎo)電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜，

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆,，導(dǎo)電性糊狀物,，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜,，金屬薄膜,，

4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料,，導(dǎo)電性纖維,，導(dǎo)電性陶瓷等，

ITO導(dǎo)電箔膜四探針方阻測試儀操作步驟

規(guī)格型號	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方塊電阻范圍	10^-5～2×10⁵Ω/□	10^-4～2×10³Ω/□	10^-3～2×10⁵Ω/□	10^-3～2×10³Ω/□	10^-2～2×10⁵Ω/□	10^-2～2×10³Ω/□
2.電阻率范圍	10^-6×10⁶Ω-cm	10^-5×10⁴Ω-cm	10^-4～2×10⁶Ω-cm	10^-4～2×10⁴-cm	10^-3～2×10⁶Ω-cm	10^-3～2×10⁴-cm
3.測試電流范圍	0.1μA ,，1μA,，10μA，100μA,，1mA,，10mA，100 mA	10μA,，100μA,，1mA，10mA,，100 mA	0.1μA ,，1μA，10μA,，100μA,，1mA，10mA,，100 mA	10μA,，100μA，1mA,，10mA,， 100 mA	0.1μA，1μA,，10μA,，100μA，1mA,，10mA,，100 mA	1μA，10μA,，100μA,，1mA，10mA,，100 mA
4.電流精度	±0.1%讀數(shù)	±0.2%讀數(shù)	±0.2%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)
5.電阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數(shù)	液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導(dǎo)率
7.測試方式	普通單電測量
8.工作電源	輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9.整機(jī)不確定性誤差	≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購功能	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭,；選購3.直線形探頭,；選購4.測試平臺
11.測試探頭	探針間距選購：1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針

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