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四探針電阻率測試步驟流程
半導(dǎo)體采用四探針法測試電阻率及電導(dǎo)率,,他的性質(zhì)在一般情況下,,半導(dǎo)體電導(dǎo)率隨溫度的升高而減小,,這與金屬導(dǎo)體恰好相反,。
上述特征的材料都可歸入半導(dǎo)體材料的范圍,。反映半導(dǎo)體材料內(nèi)在基本性質(zhì)的卻是各種外界因素如光,、熱、磁,、電等作用于半導(dǎo)體而引起的物理效應(yīng)和現(xiàn)象,,這些為半導(dǎo)體材料的半導(dǎo)體性質(zhì)。
半導(dǎo)體材料分為元素半導(dǎo)體,、無機(jī)化合物半導(dǎo)體,、有機(jī)化合物半導(dǎo)體和非晶態(tài)與液態(tài)半導(dǎo)體。
備制不同的半導(dǎo)體器件對半導(dǎo)體材料有不同的形態(tài)要求,,包括單晶的切片,、磨片、拋光片,、薄膜等,。半導(dǎo)體材料的不同形態(tài)要求對應(yīng)不同的加工工藝。
半導(dǎo)體材料的特性參數(shù)對于材料應(yīng)用甚為重要,。不同的特性半導(dǎo)體材料決定不同的用途,。
下面就半導(dǎo)體材料四探針電阻率測試儀給大家介紹下操作流程及操作步驟,就FT-341四探針電阻率測試儀為例,,來做詳細(xì)的介紹:
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