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當前位置:寧波瑞柯微智能科技有限公司>>技術文章>>超低阻雙電四探針測試儀概述
本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,,zui小可以測試到1uΩ方阻值,,是目前同行業(yè)中能測量到的zui小值,采用高精度AD芯片控制,,恒流輸出,,結(jié)構合理、質(zhì)量輕便,,運輸安全,、使用方便;適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具,。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,無需人工計算,,并帶有溫度補償功能,,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,,無需人工多次和重復設置,。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),,自動生成報表,;
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準,。利用電流探針,、電壓探針的變換,進行兩次電測量,,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,,它與單電測直線或方形四探針相比,,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。選購:本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用,,通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.
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