SYPT-2平行平晶(千分尺計量建標專用)
一.產(chǎn)品簡介:
SYPT-2平行平晶(檢測千分尺計量建標專用)是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度,。平行平晶用用于干涉法測量檢定千分尺、杠桿千分尺,、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度,。適用于光學加工廠、廠礦企業(yè)計量室,、精密加工車間,、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用,也適用于高等院校,、科學研究等單位做平面度等檢測,。
二.功能特點:
1.具有高精度的平面性和平行性。
2.采用A級光學玻璃,,穩(wěn)定性好,,無色透明。
3.壽命長,、不受環(huán)境溫度影響,。
三.技術指標:
每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ,、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
四.平行平晶規(guī)格分類:
平行平晶共分四個系列,,每組四塊。
組Ⅰ | 平行平晶 | 0-25mm | 4塊/組 |
組Ⅱ | 平行平晶 | 25-50mm | 4塊/組 |
組Ⅲ | 平行平晶 | 50-75mm | 4塊/組 |
組Ⅳ | 平行平晶 | 75-100mm | 4塊/組 |
平行平晶尺寸系列表
組號 | 0-25 | 25-50 | 50-75 | 75-100 |
1 | 15.00,,15.12 | 40.00,40.12 | 65.00,,65.12 | 90.00,,90.12 |
2 | 15.12,,15.25 | 40.12,,40.25 | 65.12,65.25 | 90.12,,90.25 |
3 | 15.25,,15.37 | 40.25,40.37 | 65.25,,65.37 | 90.25,,90.37 |
4 | 15.37,15.50 | 40.37,,40.50 | 65.37,,65.50 | 90.37,90.50 |
5 | 15.50,,15.62 | 40.50,,40.62 | 65.50,65.62 | 90.50,,90.62 |
6 | 15.62,,15.75 | 40.62,40.75 | 65.62,,65.75 | 90.62,90.75 |
五.工作原理:
平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測量平行度誤差的,,故其測量方法稱為平晶干涉法(圖2),也稱技術光波干涉法。測量時,把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ,,以單色光源照射時會產(chǎn)生干涉條紋,。干涉條紋的位置與光線的入射角有關。如入射光線垂直于被測表面,,且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋,。若在白光下,則出現(xiàn)彩色干涉條紋,。如干涉條紋平直,,相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好;如干涉條紋彎曲,,則表示平面度不好,。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)
λ為光波波長,白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量,,ω為干涉帶間距,。