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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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產(chǎn)品分類品牌分類
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激光測振儀 傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺- 高電場介電,、損耗,、漏電流測試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測試儀 高溫介電溫譜測試儀 熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺 簡易探針臺 高溫四探針測試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
鐵電參數(shù)測試功能
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試,；
PUND 脈沖測試,；Fatigue 疲勞測試；Retention保持力,；
Imprint印跡,；Leakage current漏電流測試；Thermo Measurement 變溫測試功能,。
壓電參數(shù)測試功能
可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測試,，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動(dòng)態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。
熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測試,。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流,、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時(shí)間的曲線,。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃,；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃,、室溫到800℃
介電溫譜測試功能
用于分析寬頻,、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X,、導(dǎo)納Y,、電導(dǎo)G、電納B、電感L,、介電損耗D,、因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測樣品隨溫度,、頻率,、時(shí)間、偏壓變化的曲線,。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試,。
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC
用于研究材功材料的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫,、相轉(zhuǎn)變,、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間,、活化能等相關(guān)的介電特性,。
絕緣電阻測試功能
電壓輸出與電流測量，保障測試的,，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。例如：陶瓷材料,、硅橡膠測試,、PCB、云母,、四氟材料電阻測試,、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的測試。
高溫四探針測試功能
符合功能材料導(dǎo)體,、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求,。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。
塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體,，陶瓷材料,，金屬材料等多種材料的多種熱電分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件,，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃,，高阻選件高至10MΩ。
電卡效應(yīng)測試功能
還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡,。
溫度范圍：-50℃到200℃,、熱流時(shí)間范圍：1s-1000s，大電壓可達(dá)10kV,，
波形：用戶自定,、脈沖、三角波,、正弦波,、任意波形,、預(yù)定義波形。
功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
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