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涂鍍層測(cè)厚儀概述

涂鍍層測(cè)厚儀即測(cè)厚儀（測(cè)厚儀）,。因?yàn)闇y(cè)厚儀主要測(cè)量厚度的目標(biāo)，就是某一物體的涂層或者是鍍層,。所以測(cè)厚儀又叫涂鍍層測(cè)厚儀,。這類儀表中有利用α射線、β射線,、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì),；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等,。

原理分類

測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同,，可大致分為：

1、接觸式測(cè)厚儀

接觸面積大小劃分：

• 點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
• 面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2,、非接觸式測(cè)厚儀

非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同,，又可分為以下幾種：

• 激光測(cè)厚儀
• 超聲波測(cè)厚儀
• 涂層測(cè)厚儀
• X射線測(cè)厚儀
• 白光干涉測(cè)厚儀
• 電解式測(cè)厚儀

主要類型

激光測(cè)厚儀：

是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度,，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器,。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備,。

X射線測(cè)厚儀：

利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度,，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器,。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),，達(dá)到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工,。
 

紙張測(cè)厚儀：

適用于4mm以下的各種薄膜,、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量,。
 

薄膜測(cè)厚儀：

用于測(cè)定薄膜,、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬,、測(cè)量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換,、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
 

超聲波測(cè)厚儀：

超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),，脈沖被反射回探頭，通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度,。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量,。

適合測(cè)量金屬（如鋼、鑄鐵,、鋁,、銅等）、塑料、陶瓷,、玻璃,、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。

X射線測(cè)厚儀：

適用生產(chǎn)鋁板,、銅板,、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套,，應(yīng)用于熱軋,、鑄軋、冷軋,、箔軋。其中,，x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋,、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

涂層測(cè)厚儀F型探頭可直接測(cè)量導(dǎo)磁材料（如鋼鐵,、鎳）表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料,、搪瓷,、銅、鋁,、鋅,、鉻、等）,?？蓱?yīng)用于電鍍層、油漆層,、搪瓷層,、鋁瓦、銅瓦,、巴氏合金瓦,、磷化層、紙張的厚度測(cè)量,，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量,。

注意事項(xiàng)

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法,，電解測(cè)厚法,，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

測(cè)量注意事項(xiàng)：

1. 在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似,。
2. 測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直,。
3. 測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,。
4. 測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響,。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
5. 測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法,。
6. 測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感,。
7. 在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
8. 在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì),。