目錄:瑞典百歐林科技有限公司>>QSense 石英晶體微天平>>聯(lián)用模塊>> QCM-D礦物浮選模塊
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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QSense 礦物浮選模塊旨在以納克級精度實(shí)時(shí)分析液相中分子在芯片表面的吸附和相互作用,。通過將模塊倒置(即芯片有效傳感器區(qū)域)于樣品池中,,可有效降低液體中的顆粒沉降影響。應(yīng)用因其設(shè)計(jì),,使其在礦物浮選中具有廣泛的應(yīng)用:礦物表面特性研究:其可用于測量礦物表面的吸附特性,、電荷狀態(tài)以及氧化還原性質(zhì),有助于了解礦物與浮選藥劑之間的相互作用。浮選藥劑篩選:通過在石英晶體微天平上固定礦物顆粒,,并注入不同的浮選藥劑,,可以實(shí)時(shí)監(jiān)測藥劑與礦物表面的相互作用及吸附行為,從而評估不同藥劑的浮選效果,。浮選過程優(yōu)化:利用石英晶體微天平監(jiān)測浮選過程中礦物與藥劑之間的相互作用,,可以優(yōu)化浮選條件,例如調(diào)整藥劑濃度,、藥劑添加順序和pH值,,以提高礦物的浮選選擇性和回收率。礦物腐蝕研究:石英晶體微天平可用于評估浮選過程中礦物的腐蝕性,,通過監(jiān)測腐蝕產(chǎn)物的生成速率和質(zhì)量變化,,可以研究不同條件下礦物的耐蝕性,并優(yōu)化腐蝕抑制措施,??偟膩碚f,這一設(shè)計(jì)在礦物浮選中的應(yīng)用主要集中在研究礦物表面特性,、評估浮選藥劑效果,、優(yōu)化浮選過程以及研究礦物腐蝕性,有助于提高浮選工藝的效率和選擇性,。
芯片 兼容QSense所有14mm芯片測量方式 倒置,、靜止測試與溶液接觸材料 特氟龍(Teflon),鈦(Ti)清洗 所有可拆解部分均可獨(dú)立清洗尺寸 高:10.6cm(包含通訊線),;寬:3.4cm,;深:5.2cm
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