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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
如圖SPL-F反射光譜測量是一個用來測量反射光譜的系統(tǒng),，系統(tǒng)由光譜儀，光源,，光纖,，反射探頭，反射積分球,，標準反射板和樣品池支架組成,。
SPL-F反射光譜測量的詳細介紹：
可以使用高性價比的USB2000+光譜儀，覆蓋紫外到可見200-850nm的范圍,，或者可見到近紅外350-1000nm的范圍?；蚋采w200-1100nm的MAYA2000PRO光譜儀,。如果您考慮的是近紅外波段，可以使用NirQuest近紅外光譜儀,，或者FTIR紅外光譜儀,。
采樣附件：
測量反射率的時候，必須考慮樣品的反射是鏡面反射還是漫反射,，或者是反射率隨入射光的角度改變的樣品,。
光源：
可以使用覆蓋可見和近紅外范圍的鹵鎢燈HL2000，或者紫外到近紅外的DH2000-BAL光源,，如果您需要更便攜的光源,，也可以使用DT-mini光源,。
反射標準：
如果是漫反射，可以使用ws-1,；如果是鏡面反射,，可以使用STAN-SSH（高反射率）或者STAN-SSL（高反射率），更有STAN-SSH-NIST,，具有NIST標準的反射率文件,，可以直接調(diào)入軟件測量樣品的反射率。
