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電子顯微鏡之的發(fā)展歷程簡介-光學(xué)儀器小常識(shí)
閱讀：2635 發(fā)布時(shí)間：2013-1-15
電子顯微鏡之歷史演進(jìn)
光學(xué)顯微鏡（Light Microscopes）受限于波長繞射的限制,，因此解析度只能到300nm左右,。
為突破對物體微觀世界之觀察,，開始有電子顯微鏡（Electron Microscopes）之發(fā)展,。自十九世紀(jì)末（西元1897年）英國科學(xué)家湯姆森（J.J. Thomson）發(fā)現(xiàn)電子（Electron）以來,，
在十九世紀(jì)末二十世紀(jì)初,，許多的物理理論相繼發(fā)展與驗(yàn)證，這些科學(xué)發(fā)展也奠定電子波質(zhì)二元論之基礎(chǔ),。
1927 年美國 Davisson和Germer兩氏以電子繞射實(shí)驗(yàn)證實(shí)了電子的波動(dòng)性。之后J.J. Thomson作陰極射線管實(shí)驗(yàn)時(shí),，
觀察到電場及磁場可偏折電子束,。因此后人開始利用此一觀點(diǎn)，藉由電磁場聚焦電子產(chǎn)生放大作用,。電磁場對電子之作用與光學(xué)透鏡對光波之作用非常相似,，
因而發(fā)展出電磁透鏡。為探討奈米尺度物體之微觀世界,，電子顯微鏡之技術(shù)隨著時(shí)代不斷的改進(jìn),，以滿足人類對物體之奈米世界的渴望。
談到電子顯微鏡,，我們一定會(huì)提到對此領(lǐng)域相當(dāng)有貢獻(xiàn)之諾貝爾獎(jiǎng)得主：Ruska,。1932年Ruska與Knoll將電磁透鏡之構(gòu)想應(yīng)用在實(shí)際之實(shí)驗(yàn)儀器上，
之后于1934年Ruska在其實(shí)驗(yàn)室制作出*部穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope,；TEM）,。
參考資料
http://www.bjsgyq.com/體視顯微鏡 ， 顯微鏡
http://www.bjsgyq.com/體視顯微鏡 ， 顯微鏡