Dimension FastScan 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension® Icon®分辨率的儀器性能前提下,，大限度的成像速度,。這項(xiàng)技術(shù)，解決了AFM成像速度慢的難題,，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間,。
       AFM使用效率和檢測(cè)性能，Bruker開(kāi)發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng),，不降低分辨率,，不增加操作復(fù)雜性，不影響儀器使用成本的前提下,，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng),，即快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當(dāng)您對(duì)樣品進(jìn)行掃描時(shí),，設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度 > 125Hz,，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像,?？焖賿呙柽@一技術(shù)重新定義了AFM儀器的操作和功能。,。聚合物材料表征,，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征,，MEMS制造,，細(xì)胞表面形態(tài)觀察，生物大分子的結(jié)構(gòu)及性質(zhì),，數(shù)據(jù)存儲(chǔ),，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，食品,、化學(xué)品,、護(hù)膚品的加工/包裝，液晶材料性能表征,，分子器件,，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu),，光盤存儲(chǔ)，陶瓷工藝，薄膜性能表征,，地質(zhì),、能源、環(huán)境等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類科研和生產(chǎn)工作

儀器檢測(cè)性能

·  在空氣或液體中成像速度是原來(lái)速度的100倍,，自動(dòng)激光調(diào)節(jié)和檢測(cè)器調(diào)節(jié),，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間,。
·  自動(dòng)測(cè)量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合,，大幅高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度和可重復(fù)性。

測(cè)量分辨率
·  Fastscan的力控制模式圖像分辨率的同時(shí),，延長(zhǎng)了探針的使用壽命,。
·  掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像,。
·  低噪音,，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級(jí)的噪音水平。

測(cè)試功能,，適用于各類AFM樣品
·  閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描器降低了Z方向噪音,，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率,，可得到分辨的真實(shí)圖像,。
·  Fast Scan可以對(duì)不同樣品進(jìn)行測(cè)量，掃描過(guò)程中從埃級(jí)到0.1μm的無(wú)失真掃描,。

不論您選擇Icon掃描器獲得超低噪音和分辨率的圖像,，還是選擇Dimension FastScan AFM的掃描器進(jìn)行高速掃描檢測(cè)，Dimension FastScan AFM系統(tǒng)都會(huì)幫助您將儀器的功能開(kāi)發(fā)到大程度,，實(shí)現(xiàn)其它單一模式的儀器所達(dá)不到的效果,。