A1型磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片

簡(jiǎn) 介：
A型靈敏度試片zui先由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國(guó)家使用,，主要用于零部件的磁粉探傷,，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜,，不同材質(zhì)的工作,，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備,，磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢,，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。

特點(diǎn)：
試片用于磁粉顯示,，圖象直觀,，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類(lèi)零件所有方向的磁場(chǎng),，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí),，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。

性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1,、A2,；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成,。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片,，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1（15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片,。相當(dāng)于A1型試片中2# （30/100μ）標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷,，其中括號(hào)中分子為槽深,，分母為試片厚度,，單位為（微米），D為工件直徑,。
本套試片包括：

1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成

使用方法：
1,、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片,，將刻有槽的一面朝向工件,，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好,，膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2,、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法,，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高,，以顯示磁痕為界,，即是磁化電流）。上述步驟完畢后,，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1,、試片使用前,，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上,，保證試片與被檢面接觸良好,。
2、試片用后請(qǐng)涂防銹油,。
3,、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用

產(chǎn)品關(guān)鍵字：A1磁粉試片 磁粉探傷用試片,磁粉靈敏度試片,磁粉試片