A1型磁粉探傷標準靈敏度試片

簡 介：
A型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學會提出,，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷,，在檢查中,，對幾何形狀復雜，不同材質的工作,，可以正確地選擇磁化規(guī)范,，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷操作過程中,，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具,。

特點：
試片用于磁粉顯示,，圖象直觀，使用簡便,。對各類零件所有方向的磁場,，尤其檢查形狀復雜的零件時，表現其*的優(yōu)點,。

性能規(guī)格：
A型標準試片分為A1,、A2；A1為退火材料制成,，A2為不作熱處理的冷軋材料制成,。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應,。本試片為A1（15/50μ）標準試片,。相當于A1型試片中2# （30/100μ）標準靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D,；適用于中靈敏度探傷,，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度,，單位為（微米）,，D為工件直徑。
本套試片包括：

1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成

使用方法：
1,、標準試片適宜于連續(xù)磁化法,，使用時應選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件,，用膠帶紙緊密地貼上,，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣,，不能覆蓋試片背面的刻槽部位,。
2、進行外加懸場法,，對工件進行磁化,，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界,，即是磁化電流）,。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕,。
注意事項：
1,、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,，再用膠帶紙緊密地貼在工件上,，保證試片與被檢面接觸良好。
2,、試片用后請涂防銹油,。
3、試片有銹蝕,、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用

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