日本JEOL 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡特性

日常使用的SEM，好用,！ 該設(shè)備最高分辨率1nm,、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測(cè)和分析信息,，用戶界面操作簡(jiǎn)單,、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室,。

Zeromag日本JEOL 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有將樣品臺(tái)圖像,、光學(xué)像和SEM像聯(lián)動(dòng)的功能,，樣品臺(tái)上有多個(gè)樣品和觀察特定區(qū)域時(shí)，很容易搜尋視野,。

※若顯示光學(xué)像,，需要選件樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)SNS。

■ Integrated EDS & Live Analysis

一體化EDS和實(shí)時(shí)分析

SEM操作界面上有EDS分析操作,，觀察分析無(wú)障礙,。Live Analysis具有實(shí)時(shí)顯示特征X線譜圖功能。

■ SMILE VIEW™ Lab

快速生成數(shù)據(jù)報(bào)告,。