ZB-HY3000電腦測控壓縮試驗儀
一,、產(chǎn)品概述
ZB-HY3000電腦測控壓縮試驗儀是測定紙張環(huán)壓強度(RCT)、瓦楞紙板邊壓強度(ECT),、瓦楞紙板平壓強度(FCT),、瓦楞紙板粘合強度(PAT),、瓦楞原紙平壓強度(CMT)的儀器,。是目前國內(nèi)性價比非常高的一款高精度壓縮強度測試儀器。
該儀器為機電一體化結(jié)構(gòu),，采用現(xiàn)代機械設(shè)計理念和微機處理技術(shù)進行精心合理的設(shè)計,。儀器采用上壓板固定式，測量精度高,。具有強大的數(shù)據(jù)處理功能,，可直接得出各項數(shù)據(jù)的統(tǒng)計結(jié)果，并且能自動復(fù)位,，操作方便,，容易調(diào)節(jié)，性能穩(wěn)定,。
電腦測控壓縮試驗儀是一種專門用于測試各種材料壓縮強度的設(shè)備,。其主機機架設(shè)計輕巧且剛性好，機械傳動采用同步帶和高精度絲杠,，保證傳動平穩(wěn),、間隙小、響應(yīng)快且噪音低,。傳動源采用日本松下驅(qū)動器及伺服電機,，測量系統(tǒng)則使用高精度力值傳感器及位移等傳感器，確保測量準確,。
這款設(shè)備利用計算機操作,，方便快捷，能夠自動進行各種參數(shù)設(shè)置,、測量,、控制、數(shù)據(jù)處理,，以及繪制各種曲線和打印試驗報告,。其技術(shù)性能在國內(nèi)同類產(chǎn)品中處于的地位。
電腦測控壓縮試驗儀主要用于紙板,、紙箱及其他類似材料的物理性能測試,，是生產(chǎn)廠家、相關(guān)科研部門及大專院校的重要測試儀器。它能測試紙板的環(huán)壓強度,、邊壓強度,、平壓強度等，以及瓦楞紙板的粘合強度等,。這些測試對于確保產(chǎn)品質(zhì)量,、改進生產(chǎn)工藝和滿足相關(guān)標準至關(guān)重要。
操作該設(shè)備時,，首先打開電源開關(guān),，進行通電預(yù)熱。然后通過觸屏操作進入主控界面,，檢查儀器功能,。在系統(tǒng)設(shè)置中，可以進行日期和時間設(shè)置以及定量設(shè)置等,。在使用過程中,，應(yīng)嚴格按照操作說明進行，確保測試結(jié)果的準確性和設(shè)備的正常運行,。
總之,，電腦測控壓縮試驗儀是一款高精度、高效率,、易操作的測試設(shè)備,，廣泛應(yīng)用于紙板、紙箱等材料的物理性能測試領(lǐng)域,。如需更多關(guān)于該產(chǎn)品的信息,，建議直接聯(lián)系設(shè)備供應(yīng)商或制造商，以獲取更詳細的技術(shù)規(guī)格,、價格,、售后服務(wù)等方面的信息。
儀器配備相應(yīng)輔具可進行以下試驗：
1,、配備環(huán)壓試驗中心盤和環(huán)壓取樣器,，進行紙板環(huán)壓強度試驗(RCT)
2、配備邊壓(粘合)試樣取樣器和輔助導(dǎo)塊,，進行瓦楞紙板邊壓強度試驗(ECT)
3,、配備平壓試樣取樣器，進行瓦楞紙板平壓強度試驗(FCT)
4,、配備剝離強度試驗架,，進行瓦楞紙板粘合(剝離)強度試驗(PAT)
5、配備槽紋儀和輔助器具,，進行瓦楞原紙平壓強度(CMT)
二,、執(zhí)行標準
ISO 12192《紙和紙板----壓縮強度-----環(huán)壓法》
ISO 3070《瓦楞紙板-----邊緣耐壓強度的測定》
ISO 7263《瓦楞芯紙----實驗室起楞后平壓強度的測定》
ISO 3035《單面和單瓦楞紙板 平壓強度的測定》
GB/T 2679.8《紙和紙板環(huán)壓強度的測定》
GB/T 6546《瓦楞紙板邊壓強度的測定》
GB/T 6548《瓦楞紙板粘合強度的測定》
GB/T 2679.6《瓦楞原紙平壓強度的測定》
GB/T22874《單面和單瓦楞紙板 平壓強度的測定》
三,、主要性能參數(shù)
1、 儀器功能主機,，用戶可根據(jù)實際情況單獨訂購相應(yīng)的附件,，實現(xiàn)原紙和瓦楞紙板多種強度試驗；
2,、 具有測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計處理功能,，可打印輸出。
3,、 機電一體化設(shè)計,，結(jié)構(gòu)緊湊，外觀美觀大方,，維修方便
四,、主要技術(shù)參數(shù)
| 參數(shù)項目 | 技術(shù)指標 |
| 電源 | AC220V±10% 50HZ |
| 測量范圍（N） | 50～3000 |
| 分辨力（N） | 1 |
| 示值準確度 | 示值誤差±1%，示值變動性≤1% |
| 試驗速度（mm/min） | 12.5±2.5 |
| 上下壓板平行度（mm） | ＜0.05 |
| 上下壓板Z大距離（mm） | 78 |
注：測試數(shù)據(jù)在100N以下(含100N)時,，示值準確度允許超出上表規(guī)定范圍
