應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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儀器采用了一體化集成設(shè)計(jì),二極管,、三極管,、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試,,無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù),,單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試,適用于生產(chǎn)線快速測試,、自動化集成,。
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參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-11-26 13:43:45瀏覽次數(shù):1738
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Tonghui同惠TH513半導(dǎo)體C-V特性分析儀TH512
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實(shí)驗(yàn)室對半導(dǎo)體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設(shè)計(jì)頻率為1kHz-2MHz,,VGS電壓可達(dá)±40V,,VDS電壓可達(dá)±200V/±1500V/±3000V,,足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
功能特點(diǎn)
A.一體化測試,,集成度高,、體積小、效率高
一臺儀器內(nèi)置了LCR數(shù)字電橋,、VGS電壓源,、VDS電壓源、高低壓切換矩陣以及上位機(jī)軟件,,將復(fù)雜的接線,、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統(tǒng)內(nèi),操作更簡單,。特別適合產(chǎn)線快速化,、自動化測試。
B.單管器件測試,,10.1寸大屏,,四種寄生參數(shù)同屏顯示,讓細(xì)節(jié)一覽無遺
MOSFET或IGBT最重要的四個(gè)寄生參數(shù):Ciss,、Coss,、Crss、Rg,,Cies,、Coes、Cres,、Rg均可一鍵測試,,10.1寸大屏可同時(shí)將測量結(jié)果、等效電路圖,、分選結(jié)果等重要參數(shù)同時(shí)顯示,,一目了然。
一鍵測試單管器件器件時(shí),,無需頻繁切換測試腳位、測量參數(shù),、測量結(jié)果,,大大提高了測試效率。
C.列表測試,,多個(gè),、多芯、模組器件測量參數(shù)同屏顯示
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持最多6個(gè)單管器件,、6芯器件或6模組器件測試,,所有測量參數(shù)通過列表掃描模式同時(shí)顯示測試結(jié)果及判斷結(jié)果,。
D.曲線掃描功能(選件)
在MOSFET的參數(shù)中,CV特性曲線也是一個(gè)非常重要的指標(biāo),,如下圖
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,,可以以對數(shù)、線性兩種方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描,,可同時(shí)顯示多條曲線:同一參數(shù),、不同Vg的多條曲線;同一Vg,、不同參數(shù)多條曲線,。
E.接觸檢查(Contact)功能,提前排除自動化測試隱患
F.快速通斷測試(OP_SH),排除損壞器件
在半導(dǎo)體器件特性測試時(shí),,由于半器件本身是損壞件,,特別是多芯器件其中一個(gè)芯已經(jīng)損壞的情況下,測試雜散電容仍有可能被為合格,,而半導(dǎo)體器件的導(dǎo)通特性才是最重要的特性,。
因此,對于本身導(dǎo)通特性不良的產(chǎn)品進(jìn)行C-V特性測試是沒有必要的,,不僅僅浪費(fèi)了測量時(shí)間,,同時(shí)會由于C-V合格而混雜在良品里,導(dǎo)致成品出貨后被退回帶來損失.
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試(OP_SH)功能,可用于直接判斷器件本身導(dǎo)通性能,。
G.模組式器件設(shè)置,,支持定制
針對模組式器件如雙路(Dual)MOSFET、多組式IGBT,,有些器件會有不同類型芯片混合式封裝;TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化,,常見模組式芯片Demo已內(nèi)置,特殊芯片支持定制.
H.簡單快捷設(shè)置
I.10檔分選及可編程HANDLER接口
J.支持定制化,,智能固件升級方式
同惠儀器對于客戶而言是開放的,,儀器所有接口、指令集均為開放設(shè)計(jì),,客戶可自行編程集成或進(jìn)行功能定制,,定制功能若無硬件更改,可直接通過固件升級方式更新,。
儀器本身功能完善,、BUG解決、功能升級等,,都可以通過升級固件(Firmware)來進(jìn)行更新,,而無需返廠進(jìn)行。
固件升級非常智能,,可以通過系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進(jìn)行,,智能搜索儀器內(nèi)存,、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級包,并自動進(jìn)行升級
K.解決Ciss,、Coss,、Crss、Rg產(chǎn)線/自動化系統(tǒng)高速測試精度
同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經(jīng)驗(yàn)積累,,得以在產(chǎn)線,、自動化測試等高速高精度測試場合,都能保證電容,、電阻等測試精度,。
常規(guī)產(chǎn)線測試,提供標(biāo)準(zhǔn)0米測試夾具,,直插器件可直接插入進(jìn)行測試,,Ciss、Coss,、Crss,、Rg測試精度高。
針對自動化測試,,由于自動化設(shè)備測試工裝通常需要較長連接線,,大多自動化設(shè)備生產(chǎn)商在延長測試線時(shí)會帶來很大的精度偏差,為此,,同惠設(shè)計(jì)了2米延長線并內(nèi)置了2米校準(zhǔn),,保證Ciss、Coss,、Crss,、Rg測試精度和0米測試夾具一致。
L.半導(dǎo)體元件寄生電容知識
在高頻電路中,,半導(dǎo)體器件的寄生電容往往會影響半導(dǎo)體的動態(tài)特性,,所以在設(shè)計(jì)半導(dǎo)體元件時(shí)需要考慮下列因數(shù)
在高頻電路設(shè)計(jì)中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響;MOS管的寄生電容會影響管子的動作時(shí)間,、驅(qū)動能力和開關(guān)損耗等多方面特性,;寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計(jì)中也是至關(guān)重要,以MOSFET為例,。
M.標(biāo)配附件
Tonghui同惠TH513半導(dǎo)體C-V特性分析儀TH512
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號 | TH511 | TH512 | TH513 | |||
通道數(shù) | 2(可選配4/6通道) | 2 | ||||
顯示 | 顯示器 | 10.1英寸(對角線)電容觸摸屏 | ||||
比例 | 16:9 | |||||
分辨率 | 1280×RGB×800 | |||||
測量參數(shù) | Ciss,、Coss、Crss,、Rg,,四參數(shù)任意選擇 | |||||
測試頻率 | 范圍 | 1kHz-2MHz | ||||
精度 | 0.01% | |||||
分辨率 | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | |||||
100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | ||||||
1Hz 100.000kHz-999.999kHz | ||||||
10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | ||||||
測試電平 | 電壓范圍 | 5mVrms-2Vrms | ||||
準(zhǔn)確度 | ±(10%×設(shè)定值+2mV) | |||||
分辨率 | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | |||||
10mVrms 1Vrms-2Vrms | ||||||
VGS電壓 | 范圍 | 0 - ±40V | ||||
準(zhǔn)確度 | 1%×設(shè)定電壓+8mV | |||||
分辨率 | 1mV 0V - ±10V | |||||
10mV ±10V -±40V | ||||||
VDS電壓 | 范圍 | 0 - ±200V | 0 - ±1500V | 0 - ±3000V | ||
準(zhǔn)確度 | 1%×設(shè)定電壓+100mV | |||||
輸出阻抗 | 100Ω,,±2%@1kHz | |||||
數(shù)學(xué)運(yùn)算 | 與標(biāo)稱值的絕對偏差Δ,,與標(biāo)稱值的百分比偏差Δ% | |||||
校準(zhǔn)功能 | 開路OPEN,、短路SHORT、負(fù)載LOAD | |||||
測量平均 | 1-255次 | |||||
AD轉(zhuǎn)換時(shí)間(ms/次) | 快速+:0.56ms(>5kHz) 快速:3.3ms 中速:90ms 慢速:220ms | |||||
最高準(zhǔn)確度 | 0.5%(具體參考說明書) | |||||
Ciss,、Coss,、Crss | 0.00001pF - 9.99999F | |||||
Rg | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | |||||
Δ% | ±(0.000% - 999.9%) | |||||
多功能參數(shù)列表掃描 | 點(diǎn)數(shù) | 50點(diǎn),每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù),,每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選 | ||||
參數(shù) | 測試頻率,、Vg、Vd,、通道 | |||||
觸發(fā)模式 | 順序SEQ:當(dāng)一次觸發(fā)后,,在所有掃描點(diǎn)測量,/EOM/INDEX只輸出一次 | |||||
步進(jìn)STEP:每次觸發(fā)執(zhí)行一個(gè)掃描點(diǎn)測量,,每點(diǎn)均輸出/EOM/INDEX,,但列表掃描比較器結(jié)果只在最后的/EOM才輸出 | ||||||
圖形掃描 | 掃描點(diǎn)數(shù) | 任意點(diǎn)可選,最多1001點(diǎn) | ||||
結(jié)果顯示 | 同一參數(shù),、不同Vg的多條曲線,;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 | |||||
顯示范圍 | 實(shí)時(shí)自動,、鎖定 | |||||
坐標(biāo)標(biāo)尺 | 對數(shù),、線性 | |||||
掃描參數(shù)觸發(fā)方式 | Vg、Vd | |||||
單次 | 手動觸發(fā)一次,,從起點(diǎn)到終點(diǎn)一次掃描完成,,下個(gè)觸發(fā)信號啟動新一次掃描 | |||||
連續(xù) | 從起點(diǎn)到終點(diǎn)無限次循環(huán)掃描 | |||||
結(jié)果保存 | 圖形、文件 |
附件
標(biāo)配 | |||||
配件名稱 | 型號 | ||||
測試夾具 | TH26063B | ||||
測試夾具 | TH26063C | ||||
TH510夾具控制連接電纜 | TH26063D | ||||
TH510測試延長線 | TH26063G |
同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀
同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀
同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀