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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
多模式原子力顯微鏡?主要功能特點(diǎn)
1,、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體,抗干擾能力強(qiáng),;
2,、精密激光及探針定位裝置,更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡(jiǎn)單方便,;
3,、采用樣品趨近探針?lè)绞?,使針尖垂直于樣品掃描?/p>
4,、馬達(dá)自動(dòng)脈沖控制驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針,實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位,;
5,、高精度樣品移動(dòng)裝置,可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域,;
6,、帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng),實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針樣品掃描區(qū)域,;
7,、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì),便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù),;
8,、集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統(tǒng)使用,;
9,、彈簧懸掛式防震方式,簡(jiǎn)單實(shí)用,,抗干擾能力強(qiáng),。
多模式原子力顯微鏡主要技術(shù)指標(biāo)
1、工作模式:接觸模式,、輕敲模式,,可選配摩擦力、相位,、磁力或靜電力
2,、樣品尺寸:Φ≤90mm,H≤20mm
3,、掃描范圍:XY向20um,,Z向2um
4、掃描分辨率:XY向0.2nm,Z向0.05nm
5,、樣品移動(dòng)范圍:±6.5mm
6,、馬達(dá)趨近脈沖寬度:10±2ms
7、圖像采樣點(diǎn):256×256,,512×512
8,、光學(xué)放大倍數(shù)4X,光學(xué)分辨率2.5um
9,、掃描速率0.6Hz~4.34Hz,,掃描角度0~360°
10、掃描控制:XY采用18-bit D/A,,Z采用16-bit D/A
11,、數(shù)據(jù)采樣:14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
12,、反饋方式:DSP數(shù)字反饋
13,、反饋采樣速率:64.0KHz
14、計(jì)算機(jī)接口:USB2.0
15,、運(yùn)行環(huán)境:運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)
友好的軟件界面和操作功能
1. 多通道圖像同步采集顯示,,實(shí)時(shí)查看剖面圖;
2. 多種曲線力-間距(F-Z),、頻率-RMS(f-RMS),、RMS-間隙(RMS-Z)測(cè)量功能;
3. 可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移,、剪切功能,,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域;
4. 可任意選擇樣品起始掃描角度,;
5. 激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能,;
6. 針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能;
7. 可任意定義掃描圖像的色板功能,;
8. 支持樣品傾斜線平均,、偏置實(shí)時(shí)校正功能;
9. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正,;
FSM-AFM操作軟件主要功能特點(diǎn)
1,、可實(shí)時(shí)觀測(cè)樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像,;
2,、具備接觸、輕敲,、相位,、摩擦力,、磁力或靜電力工作模式;
3,、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512,;
4、多通道圖像同步采集顯示,,實(shí)時(shí)查看剖面圖,;
5、多種曲線力-間距(F-Z),、頻率-RMS(f-RMS),、RMS-間隙(RMS-Z)測(cè)量功能;
6,、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移,、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域,;
7,、可任意選擇樣品起始掃描角度;
8,、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能;
9,、針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能,;
10、可任意定義掃描圖像的色板功能,;
11,、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能,;
12,、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正;
13,、支持樣品圖片離線分析與處理功能,。