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x射線熒光光譜儀的原理簡述了解一下呢
x射線熒光光譜儀的原理簡述了解一下呢
熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性,、定量分析的儀器,。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜,、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率,、熒光強度,、熒光壽命、斯托克斯位移,、熒光偏振與去偏振特性,，以及熒光的淬滅方面的信息。
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,，根據(jù)Bragg定律,，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
公式中 ，λ為分析譜線波長,；d為晶體的晶格間距,；θ為衍射角；n為衍射級次,。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息,。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中,，K為入射射線的光子能量,；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù),。電荷量與入射射線能量成正比,，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得,。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等,。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外,，還必須采用一定的樣品制備技術(shù),，并對獲得的強度進行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。