x熒光光譜儀的應(yīng)用及優(yōu)點介紹
x熒光分析已廣泛應(yīng)用于材料,、冶金、地質(zhì),、生物醫(yī)學,、環(huán)境監(jiān)測、天體物理,、文物考古,、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域,,是一種快速,、無損、多元素同時測定的分析技術(shù),,可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的,、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑,。
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度,,也可以獲得各元素的含量信息。
近年來,,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì),、有色、建材,、商檢,、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得也廣泛,。
優(yōu)點概述
1) 分析時間短。測定用時與測定精密度有關(guān),,但一般都很短,,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2) 適用范圍廣,。X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān),,而且跟固體、粉末,、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),,這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學位的測定 ,。
3) 非破壞分析,,重現(xiàn)性好。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變,,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,。同一試樣可反復多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好,。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法,,所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5) 制樣簡單,,固體,、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
6) 分析精密度高,。