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x熒光光譜儀的應(yīng)用及優(yōu)點(diǎn)介紹
x熒光光譜儀的應(yīng)用及優(yōu)點(diǎn)介紹
x熒光分析已廣泛應(yīng)用于材料,、冶金,、地質(zhì),、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè),、天體物理,、文物考古、刑事偵察,、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域,，是一種快速、無損,、多元素同時(shí)測(cè)定的分析技術(shù),，可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的、低成本的,、及時(shí)的檢測(cè),、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,，也可以獲得各元素的含量信息,。
近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金,、地質(zhì)、有色,、建材,、商檢、環(huán)保,、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得也廣泛。
優(yōu)點(diǎn)概述
1) 分析時(shí)間短,。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素,。
2) 適用范圍廣,。X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體,、粉末,、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系,。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著,。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 ,。
3) 非破壞分析,，重現(xiàn)性好。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象,。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好,。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法,，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5) 制樣簡(jiǎn)單,，固體,、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析,。
6) 分析精密度高,。