實(shí)驗(yàn)問題
當(dāng)我們對材料做Tafel極化曲線測試時(shí)會不會有這樣的疑問:
為什么極化曲線測出來的腐蝕電位跟開路電位偏差大,以至于陽極部分與陰極部分不一樣寬,?
問題原因
這都是由于在電位掃描時(shí)樣品表面的雙電層充放電造成的,,掃描開始時(shí)樣品表面的雙電層迅速集聚電荷使樣品極化,集聚的電荷會在掃描過程中釋放,,但其速度跟不上電位掃描速度,,以至于腐蝕電位會偏向于起始掃描電位一側(cè),并且掃描速率越高這種偏移越大,。此外,,雙電層的充放電電流會增大實(shí)驗(yàn)誤差。
解決辦法
解決辦法是做極化曲線雙向掃描,,把雙向電流做平均,,由于雙電層的充放電電流剛好反向,就會抵消掉,。
由于zahner的I/E掃描是四電位參數(shù)的,,雙向掃描很容易實(shí)現(xiàn)
問題原因
Zahner的離線分析軟件可以直接對雙向掃描的極化曲線做平均擬合,節(jié)省做大量數(shù)據(jù)處理的時(shí)間,,為實(shí)驗(yàn)助力,。
Zahner的離線分析軟件提供Tafel和Butler-Volmer兩種擬合方式,并且均可實(shí)現(xiàn)單向擬合和雙向平均擬合,。
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