特征 & 優(yōu)點
高分辨率直流參數(shù)測量 370B（分辨率低至 1 pA 或 2 μV）
高電壓和電流 使用 371B 供電（高達 3,000 V 或 400 A）
內(nèi)置光標測量 - 點,、窗口和功能線
Kelvin Sense 測量
掃 測量模式
波形比較和平均
可 編程 序
1.44 MB 軟盤驅(qū)動器存儲曲線的設(shè)置和位圖
直接 使用第三方打印機進行硬拷貝
應(yīng)用
參數(shù) 半導(dǎo)體的表征
故障分析
數(shù)據(jù) 圖紙生成
制造測試
過程監(jiān)控和 質(zhì)量管理
進貨檢驗
組件匹配
370B 和 371B 可編程曲線追蹤器
泰克曲線跟蹤器提供動力 以及用于測試半導(dǎo)體器件直流特性的多功能性,。這 370B 和 371B 曲線示蹤器結(jié)合了簡單易用的前面板數(shù)字采集 以及顯示器和可編程性,，以滿足各種應(yīng)用需求。
在 R&D 實驗室,，Tektronix 曲線追蹤器用于表征 新設(shè)計、SPICE 參數(shù)提取,、故障分析和數(shù)據(jù)表 代。在制造測試中,，使用泰克曲線跟蹤器進行驗證 設(shè)備質(zhì)量和過程監(jiān)控,。它們也用于進料檢驗 要驗證設(shè)備性能，請執(zhí)行故障分析并匹配組件,。
這 高分辨率曲線追蹤器的世界標準
370B 頁,。
這 370B 是高分辨率曲線追蹤器的世界標準，可提供高達 20 A/2,000 V 供電能力,，結(jié)合 1 pA 和 50 μV 測量 分辨率,。370B 可對集成的 電路、晶體管,、晶閘管,、二極管、SCR,、MOSFET,、電光元件、 太陽能電池,、固態(tài)繼電器和其他半導(dǎo)體器件,。它有按鈕 源和測量配置，以便于從一個測試進行更改 到下一個,。
高功率曲線跟蹤器
371B 頁,。
這 371B 是高功率曲線跟蹤器,，可執(zhí)行 DC 參數(shù)化 對包括晶閘管在內(nèi)的各種功率半導(dǎo)體進行表征， SCR,、IGBT 和功率 MOSFET,。高壓集電極模式允許測試 高達 3,000 伏特的設(shè)備的關(guān)斷特性。脈沖大電流 集電極模式提供大于 400 A 峰值至 測試 On-Characteristics 并允許進行高達 3,000 瓦的高功率測試,。 在掃描測量模式下,，371B 會自動構(gòu)建一個族 的曲線，同時用低占空比脈沖刺激設(shè)備,。有了這個 功能,，可以顯示功率曲線而不會過度加熱 裝置。
交互式可編程控制
交互式控制 的 370B 和 371B 測量都是從功能齊全的正面完成的 面板或 GPIB 上,。每個操作參數(shù)都可以使用 GPIB 控制器,。這些 驅(qū)動程序具有許多構(gòu)建塊來創(chuàng)建自定義測量解決方案。
商店 以及 Call Setups 和 Digitized Curves
多達 80 個數(shù)字化特征 曲線可以存儲在軟盤或內(nèi)部非易失性存儲器中,，并且 只需按一下按鈕即可召回,。然后可以將實時曲線與 先前存儲的曲線，用于評估溫度漂移或其他變化 操作參數(shù),。為了幫助識別數(shù)據(jù),，最多 24 個字符的文本 可用于標記或注釋曲線數(shù)據(jù)。
操作參數(shù) 可以使用多種存儲方法進行調(diào)整,、存儲和調(diào)用,，包括 370B 和 371B 系統(tǒng)內(nèi)存、內(nèi)置 1.44 MB 軟驅(qū)或發(fā)送 通過 GPIB 控制器從外部傳輸,。
自動光標
370B 系列 和 371B 提供三種光標測量模式,。點光標提供直接 在任何點顯示電壓、電流,、gm 或 DC beta 的屏幕讀數(shù),。窗口 光標可以定位在兩條曲線之間，以測量小信號 beta 或 GM 的 GM 測試,，也可用于視覺 go/no-go 測試,。函數(shù) line 光標 提供斜率或截距值的屏幕讀數(shù)。
掃描測量 模式
在掃描測量模式下,，曲線追蹤器會自動 構(gòu)造一系列曲線,。371B 以低占空比實現(xiàn)了這一點 脈沖。借助此功能,，可以顯示功率曲線而不會過多 設(shè)備的加熱,。
直接硬拷貝打印輸出
曲線輸出 數(shù)據(jù)可以直接從 370B 和 371B 發(fā)送到 Citizen iDP-3240Thermal 打印機,。在 370B 和 371B 執(zhí)行下一步任務(wù)時,，可以繼續(xù)打印,。
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