Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter 利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIBSEM,、PFIB）的先進成像功能,，可以在成像的同時進行定量納米力學(xué)測試。PI 89 進一步推動了布魯克市場的電容式傳感器技術(shù),，該技術(shù)實現(xiàn)了第一個商用原位
SEM 納米力學(xué)平臺,。新的 PI 89 Auto 為四種技術(shù)增加了自動化：EBSD、EDS,、SEM 成像和機械特性映射,。
PI 89 上可用的技術(shù)包括納米壓痕、拉伸測試,、支柱壓縮,、顆粒壓縮、懸臂彎曲,、斷裂,、疲勞、動態(tài)測試和機械性能映射,。
Hysitron PI 89 的緊湊設(shè)計可實現(xiàn)最大的載物臺傾斜和最小工作距離,，從而在測試過程中實現(xiàn)最佳成像。PI 89 為研究人員
提供了比競爭對手系統(tǒng)更大的多功能性和性能：重新設(shè)計的平臺提高了多功能性和易用性1 nm 編碼線性平臺在自動測試模式下提供更高的可重復(fù)性,，同時增加行程范圍
改進的框架剛度 （~0.9 x 106N/m） 在整個測試過程中提供更高的穩(wěn)定性旋轉(zhuǎn)和傾斜 （RT） 載物臺配置可實現(xiàn)成像,、FIB 銑削，并可使用 EDS,、CBD,、EBSD 和 TKD 等探測器進行分析數(shù)據(jù)和成像
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