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如何精準(zhǔn)測試光電器件中的PN結(jié)電容的解決方案,?
研究背景
從古代的烽火臺到如今的光通信領(lǐng)域,,光作為一種可以承載信息的載體一直被廣泛應(yīng)用。其中,,光電探測器基于光電效應(yīng)的原理,,可將光信號轉(zhuǎn)換為電信號(響應(yīng)速度快、高靈敏度等優(yōu)勢),,以實(shí)現(xiàn)對光強(qiáng)度,、波長、頻率等參數(shù)的測量和分析,。
光電探測器根據(jù)其工作原理和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)可分為光電二極管,、PIN型光電二極管等,其中光電二極管是利用半導(dǎo)體PN結(jié)和內(nèi)部反射機(jī)制實(shí)現(xiàn)對入射光信號的轉(zhuǎn)換,,本次將圍繞光電二極管中的PN結(jié)電容進(jìn)行介紹,。
一、測試對象·PN結(jié)電容
PN結(jié)的最大特性是單向?qū)щ娦?/strong>,,當(dāng)正向電壓到達(dá)一定值時,,PN結(jié)被導(dǎo)通;當(dāng)反向電壓在一定范圍內(nèi)時,PN結(jié)產(chǎn)生微弱的反向飽和電流,;當(dāng)反向電壓超過一定值時,,PN結(jié)被擊穿。
在PN結(jié)處,,會因?yàn)橥饧与妷寒a(chǎn)生一定電荷積累,,這就是結(jié)電容效應(yīng),PN結(jié)電容=擴(kuò)散電容+勢壘電容(Cj=Cb+Cd),,電容特性是隔直通交,,當(dāng)通過電容的電壓頻率很低時,結(jié)電容可以忽略,,PN結(jié)還是單向?qū)ā?/span>
在光電芯片中,,工作頻率較高,如果,,PN結(jié)的電容較大,,就更容易在高頻率下變?yōu)殡p向?qū)ǖ氖顟B(tài)??梢?,PN結(jié)電容是越小越好。
二,、測試要求
在光電應(yīng)用中,需要測試大量探測器和激光發(fā)射器的PN結(jié)電容,,大概在1pF左右,。
三、測試過程
一說到測電容,,我們都會選擇阻抗分析儀/LCR電橋,,但同時也會遇到以下幾個難點(diǎn):
1,電容值?。簩τ谛酒?,1pF左右的電容;對于器件,,10pF左右,,這個數(shù)值很小,對于分辨率不高的普通LCR,,沒有這個測試能力,;
2,測試頻率較高:一般1MHz起,,2MHz以內(nèi),;
3,需要較大的偏置:10V至30V,甚至還有40V,;
4,,對于芯片,在測試電容中,,pad或者pin如果在一面,,可以用兩個探針扎,兩根針的校準(zhǔn)相對簡單,;如果處在芯片的不同面,,需要用芯片的托盤作為負(fù)極連接(無法扎針),校準(zhǔn)的細(xì)節(jié)就很考究,,需要測試者較好的工程調(diào)試經(jīng)驗(yàn),。
TH2838系列是采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,其0.05%的基本精度,、最快達(dá)5.6ms的測試速度,、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量,。