吉林高低溫交變濕熱試驗箱用途及特點

1.設(shè)備應(yīng)用在電工,、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品,、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存,、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗,。

2.高低溫交變濕熱試驗箱還適用于光纖,、LCD,、晶體、電感,、PCB,、電池、電腦,、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫,、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗,。

3.平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)（BTHC）,以P.I.D.方式控制SSR,，使系統(tǒng)之加熱加濕量等于熱濕損耗量，故能長期穩(wěn)定使用,。

4.全新造型設(shè)計,，外觀高質(zhì)感水平,系統(tǒng)提取歐美、日本較*技術(shù)之精華設(shè)計制造,。

5.采用全毛細(xì)管,，自動負(fù)載容量調(diào)整系統(tǒng)技術(shù)，較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,，升降溫速度快速,、平穩(wěn)、均勻,。

吉林高低溫交變濕熱試驗箱技術(shù)參數(shù)

1. 工作室容積：80L,，120L，150L,，225L,，306L，408L,，800L,，1000L。

2. 溫度范圍：0～+150℃,；-20～+150℃,；-40～+150℃；-60～+150℃,；-70～+150℃,。

3. 濕度范圍：20%～98%R.H。（選購：5%～98%R.H或10%～98%R.H,，溫濕度全程同步線性,。）

4. 溫度波動度：±0.5℃。

5. 濕度波動度：±1.0%R.H。

6. 溫度均勻度：≦2.0℃,。

7. 濕度均勻度：±3.0%R.H,。

8. 溫度/濕度偏差：≦±2.0℃/≦3.0%R.H。

9.升溫速率：3℃～4℃/min,。（選購：5℃/min,、10℃/min、15℃/min,、20℃/min,、25℃/min，快速溫變線性或非線性機(jī)型,。）

10.降溫速率：0.7℃～1℃/min,。（選購：5℃/min、10℃/min,、15℃/min,、20℃/min、25℃/min,，快速溫變線性或非線性機(jī)型,。）

11. 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304#鏡面不銹鋼。

12. 外箱材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)寶鋼冷軋鋼板靜電噴塑防腐處理,。

13. 制冷系統(tǒng)：*壓縮機(jī)低噪音模塊化設(shè)計風(fēng)冷或水冷制冷機(jī)組,。

14. 加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱,、耐寒加熱管,，加熱空氣式控溫。

15. 加濕系統(tǒng)：鈦合金護(hù)套式電加熱加濕器,，均勻濕氣發(fā)生裝置,。

16. 節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱）,，比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%,。

17. 制冷劑：R404a/R23。

18. 制冷方式：機(jī)械單級制冷或二元復(fù)疊制冷,。

19. 保護(hù)裝置：壓縮機(jī)過載,、過流、超壓保護(hù),；漏電保護(hù),；內(nèi)箱超溫保護(hù)；加熱管空焚保護(hù),。

20. 標(biāo)準(zhǔn)配置：觀測窗一個；LED視窗燈一支；保險管2支,；物料架2套,。

21. 電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

22. 設(shè)備型號和規(guī)格可供選擇如下：

 型 號           內(nèi)箱尺寸（mm）          外箱尺寸（mm）  

ZK- HWS-80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-HWS-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-HWS-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-HWS-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-HWS-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-HWS-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-HWS-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根據(jù)客戶需求非標(biāo)定做......

高低溫濕熱試驗測試箱參考標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫,。

2.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫,。

3.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定試驗。

4.GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化,。

5.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則,。

6.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

7.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗,。

8.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件,。

9.GB2423.3-2006（IEC68-2-3）試驗CA：恒定濕熱試驗方法。

10.GB2423.4-2008（IEC68-2-30）試驗CB：交變濕熱試驗方法,。