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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
冷熱沖擊試驗箱Thermal Shock Test概述
1.冷熱沖擊試驗箱是模擬周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊）,，應用于半導體元器件、OLED,、EVA,、PCB、IC芯片,、集成電路等作溫度快速變化條件下熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害,，是確認產(chǎn)品品質(zhì)的理想測試工具（可靠性試驗）。
2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢：中英文菜單式人機對話操作方式,，有開機自檢功能,、溫度線性校正、自動停機,、系統(tǒng)預約定時啟動功能,；實現(xiàn)工業(yè)自動化，帶數(shù)據(jù)交互功能,，能與客戶主機鏈接實現(xiàn)遠程監(jiān)控,，了解設備運行狀態(tài)，可以通過任何移動終端監(jiān)控,。
冷熱沖擊試驗箱Thermal Shock Test性能
1.溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃,、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃,。（高溫可定制：+250℃）
2.高低溫區(qū)溫度范圍：
A.高溫蓄能區(qū)：室溫～+165℃,。
B.低溫蓄能區(qū)：室溫～-55℃、室溫～-70℃,、室溫～-80℃,。
3.測試區(qū)溫度范圍：
A.高溫沖擊溫度范圍：+50℃～+150℃。
B.低溫沖擊溫度范圍：-10℃～-40℃,、-10℃～-55℃,、-10℃～-65℃。
4.溫度波動度：±0.5℃,。
5.溫度均勻度：±2.0℃,。
6.高溫區(qū)升溫時間：RT（室溫）～＋165℃小于 35min（室溫在＋10～＋25℃時）。
7.低溫區(qū)降溫時間：RT（室溫）～-55℃小于 75min（室溫在＋10～＋25℃時）,。
8.低溫沖擊溫度恢復和轉換時間：≤5min,。（可定制溫變速率為：10℃/min；15℃/min,；20℃/min,；25℃/min，線性與非線性溫變）
9.試驗測試溫度范圍：-40℃～+85℃,；-40℃～+120℃,；-55℃～+125℃,；-65℃～+150℃。（按要求選擇）
10.高溫槽與低溫槽風門切換時間：≤3S,。
11.試品重量：≤8 KG,。（可按需求定制）
12.整機噪聲：＜75 dB。
13.使用電源：AC3∮5W 380V±10% ,；50HZ,。
14.總功率：15.5KW。
15.大工作電流：25.0A,。
16.重量約：480KG,。
17.在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定20分鐘后測定的性能,。
18.溫度均勻度定義為：實驗機幾何中心點處（計量單位空間9點測溫法）,。
19.設備制造標準：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989,。
20.設備檢定標準：GB/T5170.2-1996,，GB/T5170.5-1996。
冷熱沖擊試驗箱測試條件
1.GB2423.2-2008（IEC68-2-2）試驗B：高溫試驗方法,。
2.GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D）高溫試驗方法,。
3.GB/T2423.1-1989 低溫試驗方法。
4.GB/T2423.2-1989 高溫試驗方法,。
5.GB/T2423.22-1989 溫度變化試驗。
6.GJB150.5-86 溫度沖擊試驗,。
7.GJB360.7-87 溫度沖擊試驗,。
8.GJB367.2-87 405 溫度沖擊試驗。
9.國軍標 GJB150.3-2009/GJB150.4-2009,。
10.MIT-STD-883E Method 1011.9,。
11.JESD22-B106。
12.EIAJED- 4701-B-141,。