高校院所實(shí)驗(yàn)室冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途及特點(diǎn)

1.適用于國(guó)防工業(yè),航空工業(yè),、兵工業(yè)、大專院校,、自動(dòng)化零組件,、汽車部件、電子電器儀表零組件,、電工產(chǎn)品,、塑膠、化工業(yè),、食品業(yè),、 BGA、PCB基扳,、電子芯片IC,、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊），冷熱沖擊試驗(yàn)箱適應(yīng)于儀器,、儀表,、電工,、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具,。

2.產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理,、工藝*,、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能,。

3.產(chǎn)品分為高溫箱低溫箱測(cè)試箱三部分,，采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物*靜止,，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,，熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。

4.采用*的計(jì)測(cè)裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠,，中,、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線,。

5.具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn),，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行,。

6.箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔,，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。

7.可獨(dú)立設(shè)定高溫,、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能,，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能,。

8.具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路,、任一機(jī)件動(dòng)作,，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高,。

9.*科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì),，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角完備的安全保護(hù)裝置,，避免了任何可能發(fā)生安全隱患,，保證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。

10.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)） 除霜,。

11.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測(cè)控制,，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為5秒內(nèi)完成,，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。

12.運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時(shí),螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法,。

13.冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì),，冷凍機(jī)組采用歐美*壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404A,，R23,。

設(shè)備執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.制造標(biāo)準(zhǔn)GB/T10586-2006及GB/T10592-1989。

2.檢定標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.2-1996;GB/T5170.5-1996,。

3.GB2423.1-2008（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法,。

4.GB2423.2-2008（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。

5.GB/T2423.22-2008 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法,。

6.GJ8150.3A-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法,。

7.GJ8150.4A-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

8.GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗(yàn),。

高校院所實(shí)驗(yàn)室冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

1.沖擊溫度范圍：-20℃～+150℃,；-40℃～+150℃；-55℃～+150℃,；-65℃～+150℃,。

2.高溫槽溫度上限：+170℃。

3.低溫槽溫度下限：-70℃,。

4.溫度偏差：±2℃,。

5.溫度波動(dòng)度：±0.5℃。

6.溫度恢復(fù)時(shí)間：5min,。

7.溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,；高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min；高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,；高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min,。

8.試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)。

9.冷卻方式：風(fēng)冷或水冷,。

10.試品重量：≤3kg,。

11.高溫室升溫時(shí)間：30min （+25℃～+170℃）。

12.低溫室降溫時(shí)間：65min （+25℃～-55℃）,。

13.噪音：（dB）≤65,。

14.使用電源：AC380V±10%，50/60Hz,。

15.設(shè)備型號(hào)及規(guī)格選擇如下：

  型號(hào)         內(nèi)箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-TS-50L      W400×H350×D350     W1250×H1570×D1320

ZK-TS-80L      W400×H500×D400     W1350×H1500×D1470

ZK-TS-150L     W600×H500×D500     W1550×H1600×D1920

ZK-TS-250L     W600×H600×D700     W1650×H1700×D2170

可根據(jù)需求定制非標(biāo),。。。,。,。。