舜宇 IE200M 倒置金相顯微鏡,，操作簡便,，附件齊全，廣泛應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析,、半導(dǎo)體硅晶片檢測,、地址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域,。

舜宇 IE200M 倒置金相顯微鏡優(yōu)勢

高精度粗微動調(diào)焦機(jī)構(gòu)

采用底手位粗微調(diào)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),，左右側(cè)均可調(diào)節(jié)，微調(diào)精度高,，手動調(diào)節(jié)簡單方便,，用戶能夠輕松得到清晰舒適的圖像。粗調(diào)行程為38mm,，微調(diào)精度0.002,。

大尺寸機(jī)械移動平臺

采用180×155mm的大尺寸平臺，右手位設(shè)置,，符合常規(guī)人群操作習(xí)慣。用戶操作過程中,，便于調(diào)焦機(jī)構(gòu)與平臺移動的操作切換,，為用戶提供更加高效的工作環(huán)境。

落射柯拉照明系統(tǒng)

采用180×155mm的大尺寸平臺,，右手位設(shè)置,，符合常規(guī)人群操作習(xí)慣。用戶操作過程中,，便于調(diào)焦機(jī)構(gòu)與平臺移動的操作切換,，為用戶提供更加高效的工作環(huán)境。