徠卡顯微鏡-光學(xué)測試技術(shù)綜述

一,、徠卡顯微鏡研究領(lǐng)域

凡是利用光學(xué)原理進(jìn)行精密測量的技術(shù)．都稱為光學(xué)測試技術(shù)。計量（Metorl08y）、測量

（Me姻Mrement）、檢驗（1nspe口ion）與測試（MeasMrln8andTesti98）這四個名詞對初學(xué)者來說，往往相互混淆,，持別是光學(xué)計量、光學(xué)測量,、光學(xué)檢驗與光學(xué)測試這四個主題詞更容易認(rèn)為是一件事,。實際上其研究的目標(biāo)是不盡相同的，僅在研究領(lǐng)域與研究方法上有一定交叉和重疊而已,。一般說計量是泛指對物理量的標(biāo)定,、傳遞與控制；測量是泛指各種物理量與技術(shù)參數(shù)的獲取方法,；檢驗是泛指產(chǎn)品質(zhì)量的評估技術(shù)與方法,；而測試則是測量、試驗與檢驗的總稱,，側(cè)重于方法與技術(shù)的研究,，而不是產(chǎn)品質(zhì)量的標(biāo)定方法研究，因此,，光學(xué)測試技術(shù)的主要研究領(lǐng)域如表o—1所示,。

表o—l光學(xué)測試技術(shù)的研究領(lǐng)域

領(lǐng)域名稱主要內(nèi)容

光學(xué)成像技術(shù)光放大技術(shù),，肥成像技術(shù)，聊（位置傳感器）技術(shù),，自準(zhǔn)宜技術(shù)．光掃描技術(shù),，圖像處理技術(shù)

光伯振技術(shù)雙折射效應(yīng),，橢偏技術(shù)．光彈效應(yīng),，光熱效應(yīng)，陽bk電光效應(yīng),，xe”電光效應(yīng),，F(xiàn)aMd時磁光效應(yīng)

光干涉技術(shù)共路干涉技術(shù)，切剪干涉技術(shù),，外差及零差干涉技術(shù),，多光束干涉技術(shù)

光度與色廢技術(shù)發(fā)光與分光測量，光度與照度測量,，顏色許價,，色度測量，生理光學(xué)

光譜技術(shù)棱鏡光譜技術(shù),，光柵光譜技術(shù)．喇曼光譜技術(shù),，原子吸收光譜技術(shù)

光電技術(shù)光電與光電倍增技術(shù)，攝像技術(shù),，紅外技術(shù)．激光技術(shù)

光散射技術(shù)拉曼散射,，米氏散射，布里淵散射,，偏振散射

其他光物理技術(shù)勘1比t效應(yīng),，薄膜技術(shù)，多普勒技術(shù),，頻譜技術(shù)

自70年代開始由于激光技術(shù),、光波導(dǎo)技術(shù)、數(shù)字技術(shù),、計算機(jī)技術(shù)以及博里葉光學(xué)的出現(xiàn),，使光學(xué)發(fā)展成近代光學(xué)。以激光為代表的近代光學(xué)促使光學(xué)測試技術(shù)出現(xiàn)更多新方法和新技術(shù),，從而開始形成近代光學(xué)測試技術(shù),。近代光學(xué)測試技術(shù)研究的領(lǐng)域如表o—2所示。

表o—2近代徠卡顯微鏡光學(xué)測試研究領(lǐng)域

領(lǐng)域名稱主要內(nèi)容

激光干涉技術(shù)激光光束干涉,，激光外差干涉．條紋掃描干涉,，知十四切干涉

光全息技術(shù)全息干涉，全息等高線技術(shù),，多顧全怠技術(shù),，計算機(jī)全息,，實時全息技術(shù)

光散斑技術(shù)客觀數(shù)斑法，散斑干涉法,，散斑剪切法,，e光散斑法，電子散斑法

莫爾技術(shù)莫爾條墳法,，莫爾等高線法,，拓?fù)浼夹g(shù)

光衍射技術(shù)間隙法t5射衍射法，互補法,，全場衍射出量

光掃描技術(shù)激光掃蝴,，外差掃描．掃措定位．掃描穎諸法．無定向掃撈，三維掃格

光纖與波導(dǎo)技術(shù)功能型光纖傳感技術(shù),，非功能型光纖傳感技術(shù)．分布式光纖技術(shù),，光纖靈巧結(jié)構(gòu)

激光光譜技術(shù)激光喇曼光譜，激光熒光光諸．激光原于吸收光譜p慢區(qū)光譜,，光聲光譜

配D成原技術(shù)w法,，刪法，陰法,，數(shù)字圖像法,，X信息處理法

激光多普勒技術(shù)多普勒謝速，差動多普勒技術(shù)．激光多普勒技術(shù)

光學(xué)診斷與元損檢測光伏效應(yīng),，切剪術(shù)導(dǎo)法,，光熱編轉(zhuǎn)法

光學(xué)納米技術(shù)掃報激光顯微術(shù)，光學(xué)隧道顯微術(shù),，激光力顯微術(shù),，原子力顯微術(shù)

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