平均粒度測(cè)試儀/平均粒度檢測(cè)儀 型號(hào):DP-WLP-209
DP-WLP-209型平均粒度測(cè)試儀根據(jù)家標(biāo)準(zhǔn)(費(fèi)氏法)要求,,在對(duì)被測(cè)粉末試樣施壓時(shí),,采用了LTDK型可設(shè)定空轉(zhuǎn)式扭矩起子,,(非同其他儀器所使用無科學(xué)依據(jù)的壓力校正器),。采用LTDK型扭矩起子,,可使何操作人員在對(duì)粉末測(cè)試過程中均可達(dá)到相同的壓制力,,地得到同種*孔隙度,,消除了人為誤差,,使被測(cè)粉末粒徑更加準(zhǔn)確,,同時(shí)本儀器配有雙向擴(kuò)展讀數(shù)板,孔隙度范圍由原來的0.80—0.40(擴(kuò)到0.95—0.80,、擴(kuò)到0.40—0.25),,滿足了各種粉末測(cè)試需求。
標(biāo):
1,、度:±3%
2,、測(cè)試范圍: 0.2-50 μ m (微米)
*檔: 0.2-20 μ m
二檔: 20-50 μ m
3.孔隙度范圍:0.95-0.80
0.80-0.40
0.40-0.25
4、準(zhǔn)確度:±3%
5,、環(huán)境濕度:相對(duì)濕度 ≤80%
6,、環(huán)境溫度: 25 ± 10 ℃
7、電源: ~220 ± 22V 50赫茲
8,、率: 25W
9,、重量: 18kg
10、外型尺寸: 746 × 394 × 240mm3