DP-DMR-1C型方阻儀

使

用

說

明

書

北京亞歐德鵬科有限公司

DP-DMR-1C型方阻儀是種于測量塑料薄膜金屬鍍層方塊電阻的儀器，也可以用于測量其它各種薄膜導(dǎo)電材料,。由于方阻與鍍層厚度成反比,，可以通過稱重法或者其它計(jì)量方法，由方阻推算出鍍層厚度,。儀器配有的,、帶彈簧的四探針探頭。由于探針帶有彈簧,，使得測試時壓力恒定,，接觸可靠，測試穩(wěn)定,，壽命也長,。

面板示意圖如下。

• 參數(shù)

1. 測量范圍：1mΩ-20KΩ分為五個量程

1. 1 基本誤差：△=±0.2%

2,、2 儀器分的基本誤差±0.2%±2個字

     2000mΩ檔為△=±0.2%±5個字

1. 作環(huán)境：溫度5℃-40℃,，濕度20%-80%RH
2. 電    源：220V±10%，50/60Hz,，3VA
3. 外形尺寸：寬200×80×深200（mm）,重1.5kg

• 作原理

    方塊電阻的定義見附錄,，鍍金屬塑料薄膜方塊電阻的測試可以

采用四探針測試原理。測試探頭上的四個探針等距離分布,，“1,、4”探針提供測試電流，“2,、3”探針提取電位差,。在膜寬大大于探針間距時，就可以計(jì)算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532,。儀器內(nèi)根據(jù)這個比值自動計(jì)算出方阻大小,。

等效四端電阻測試采用電流電壓法測試原理，原理如圖所示,。由恒流源輸出恒穩(wěn)的電流供給被測電阻Rx,，恒定電流的大小由K1選擇，該選擇也即決定儀器的量程。Rx上的電壓降經(jīng)直流放大器放大后,，送到數(shù)

字顯示電路,。因Rx=V/I，數(shù)字顯示電路根據(jù)直流放大器送來的V和恒流源送來的代表I的信號（即基準(zhǔn)信號）,，即可顯示出Rx的大小,。

因?yàn)椴捎昧穗娏麟妷悍ǖ乃亩藴y試原理，這樣就可以消除端口接觸電阻和引線電阻的影響,，保證了測試度,。消除端口電阻影響的原理是，供給電流的端口1,、4,，也稱為I端口，由于恒流源輸出的電流不受外電阻的影響,，所以1,、4端口存在的雜散電阻不會改變流過Rx電流的大小，也即不會影響電阻測試的準(zhǔn)確度,。提取電壓降的端口2,、3也稱為V端口或P端口。由于直流電壓放大器是輸入阻抗放大器,，2,、3端口即使存在幾十歐姆的雜散電阻，也不會影響放大器得到的輸入電壓,，這樣儀器便能測試小到幾個毫歐的電阻,，而不會受到測試線和端口雜散電阻的影響。

三,、使用方法

1. 開啟位于儀器后的電源開關(guān),，予熱5分種。

    2,、把被測薄膜有鍍層面朝上放在平整的桌面上,，硬度要適中。

    3,、把探頭放在要測的位,，輕輕壓下，選擇合適的量程,，即可從方阻儀上顯示出鍍層的方阻值,。

    4、根據(jù)四探針測試原理要求,，探頭與鍍膜邊緣要有定的距離,，才能保證有較準(zhǔn)確的讀數(shù),。因此探頭與被測鍍膜的邊緣不能太近。如定需要,，也應(yīng)使探針的排列與邊緣成垂直狀態(tài),。同理，在膜窄時也應(yīng)采取這樣的措施,。但要注意的是：雖然采取這樣的措施,，也會使讀數(shù)上升5%-20%，由探針與邊緣距離的大小決定,。

5,、儀器的零點(diǎn)檢查

    由于儀器的zui大零點(diǎn)飄移量小于±1個字，所以平常使用時不需行零點(diǎn)檢查,。但經(jīng)過半年,，或有故障時應(yīng)檢查次零點(diǎn)，方法如下：

方法,，找塊光潔的紫銅板，量程置于大量程檔,，把探頭壓在紫銅板上,，此時讀數(shù)應(yīng)為零。

方法二：找四根帶香蕉插頭的測試線,，把1,、4端聯(lián)在起，2,、3端聯(lián)在起,，然后再找根導(dǎo)線把兩個端頭聯(lián)在起，如圖二所示,。此時按儀器何量程,，均應(yīng)顯示零。如各量程的零點(diǎn)偏差小于2個字,，可以調(diào)節(jié)儀器內(nèi),，印刷左上的零點(diǎn)微調(diào)，使偏差為零,。如各量程的零點(diǎn)偏差大于2個字,，則表示儀器有故障，應(yīng)送回本廠修理,。

• 儀器的計(jì)量與維護(hù)

1. 檢查儀器的零點(diǎn),。

    2、儀器的計(jì)量可用0.1Ω,、1Ω,、10Ω,、100Ω、1000Ω五只標(biāo)準(zhǔn)電阻檢查儀器的五個量程,。

    計(jì)量時準(zhǔn)備四根帶香蕉插頭和鱷魚夾的測試線,，按圖三所示的方法聯(lián)接儀器和標(biāo)準(zhǔn)電阻。用0.1Ω計(jì)量2000mΩ量程,，此時讀數(shù)應(yīng)為453mΩ,。用1Ω計(jì)量 20Ω量程，此時讀數(shù)應(yīng)為4.53Ω,。用10Ω計(jì)量200Ω量程,，此時的讀數(shù)應(yīng)為45.3Ω。用100Ω計(jì)量2000Ω量程,，此時的讀數(shù)應(yīng)為453Ω,。計(jì)量結(jié)果應(yīng)滿足參數(shù)中關(guān)于誤差的規(guī)定。

    般情況下,，可用只1Ω或者2Ω,，度為分之二的標(biāo)準(zhǔn)電阻，計(jì)量儀器的20Ω量程,，讀數(shù)應(yīng)為標(biāo)準(zhǔn)電阻值乘上4.532倍,。如差，可卸下儀器的四個橡皮腳螺絲,，取下上蓋,，調(diào)節(jié)電路板中的微調(diào)電阻，使讀數(shù)準(zhǔn)確,。

    2,、儀器出故障時，應(yīng)檢查測試探頭上的四根測試線是否聯(lián)接好,，以及電源分的電纜,、插頭、插座,、保險絲等是否好,。如確系儀器內(nèi)故障應(yīng)送回本公司修理，因集成電路和電阻都經(jīng)過配對,，自行修理有可能成難以恢復(fù)的損壞,。本儀器實(shí)行三包，免費(fèi)修理期為年,。

    3,、儀器應(yīng)避免在潮濕的環(huán)境下使用。不使用時應(yīng)用塑料罩了,，以防水汽和灰塵的影響,。

附錄：什么是方阻

蒸發(fā)鋁膜,、導(dǎo)電漆膜、印制電路板銅箔膜等薄膜狀導(dǎo)電材料,，衡量它們厚度的方法就是測試它們的方阻,。什么是方阻呢？方阻就是方塊電阻,，個正方形的薄膜導(dǎo)電材料邊到邊“之”間的電阻,，如圖所示，即B邊到C邊的電阻值,。方塊電阻有個特性,，即意大小的正方形邊到邊的電阻都是樣的，不管邊長是1米還是0.1米,，它們的方阻都是樣,，這樣方阻僅與導(dǎo)電膜的厚度等因素有關(guān)。

方塊電阻如何測試呢,，可不可以用表電阻檔直接測試圖所示的材料呢,？不可以的，因表的表筆只能測試點(diǎn)到點(diǎn)之間的電阻,，而這個點(diǎn)到點(diǎn)之間的電阻不表示何意義,。如要測試方阻，我們需要在A邊和B邊各壓上個電阻比導(dǎo)電膜電阻小得多的圓銅棒,，而且這個圓銅棒光潔度要，以便和導(dǎo)電膜接觸良好,。這樣我們就可以通過用表測試兩銅棒之間的電阻來測出導(dǎo)電薄膜材料的方阻,。如果方阻值小，如在幾個歐姆以下,，因?yàn)榇嬖诮佑|電阻以及表本身性能等因素,，用表測試就會存在讀數(shù)不穩(wěn)和測不準(zhǔn)的情況。這時就需要用專門的用四端測試的低電阻測試儀器,，如毫歐計(jì),、微歐儀等。測試方法如下：用四根光潔的圓銅棒壓在導(dǎo)電薄膜上,，如圖二所示,。四根銅棒用A、B,、C,、D表示，它們上面焊有導(dǎo)線接到毫歐計(jì)上,，我們使BC之間的距離L等于導(dǎo)電薄膜的寬度W,，至于AB,、CD之間的距離沒有要求，般在10--20mm就可以了,，接通毫歐計(jì)以后,，毫歐計(jì)顯示的阻值就是材料的方阻值。這種測試方法的優(yōu)點(diǎn)是：（1）用這種方法毫歐計(jì)可以測試到幾百毫歐,，幾十毫歐,，甚至更小的方阻值，（2）由于采用四端測試,，銅棒和導(dǎo)電膜之間的接觸電阻,，銅棒到儀器的引線電阻，即使比被測電阻大也不會影響測試度,。（3）測試度,。由于毫歐計(jì)等儀器的度很，方阻的測試度主要由膜寬W和導(dǎo)電棒BC之間的距離L的機(jī)械度決定,，由于尺寸大,，這個機(jī)械度可以做得。在實(shí)際操作時,，為了提測試度和為了測試長條狀材料,，W和L不定相等，可以使L比W

大很多,，此時方阻Rs=Rx*W/L,Rx為毫歐計(jì)讀數(shù),。

此方法雖然度，但麻煩,，尤其在導(dǎo)電薄膜材料大,，形狀不整齊時，很難測試,，這時就需要用的四探針探頭來測試材料的方阻,，如圖三所示。探頭由四根探針阻成,，要求四根探針頭的距離相等,。四根探針由四根引聯(lián)接到方阻測試儀上，當(dāng)探頭壓在導(dǎo)電薄膜材料上面時,，方阻計(jì)就能立即顯示出材料的方阻值,，具體原理是外端的兩根探針產(chǎn)生電流場，內(nèi)端上兩根探針測試電流場在這兩個探點(diǎn)上形成的電勢,。因?yàn)榉阶柙酱?，產(chǎn)生的電勢也越大，因此就可以測出材料的方阻值,。需要提出的是雖然都是四端測試,，但原理上與圖二所示用銅棒測方阻的方法不同,。因電流場中僅少分電流在BC點(diǎn)上產(chǎn)生電壓（電勢）。所示靈敏度要低得多,，比值為1：4.53,。

影響探頭法測試方阻度的因素：（1）要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距，般要求10倍以上,。（2）要求探針頭之間的距離相等,，否則就要產(chǎn)生等比例測試誤差。（3）理論上講探針頭與導(dǎo)電薄膜接觸的點(diǎn)越小越好,。但實(shí)際應(yīng)用時,，因針狀電容易破壞被測試的導(dǎo)電薄膜材料，所以般采用圓形探針頭,。

zui后談?wù)剬?shí)際應(yīng)用中存在的問題

    1,、如果被測導(dǎo)電薄膜材料表面上不干凈，存在油污或材料暴露在空氣中時間過長,，形成氧化層,，會影響測試穩(wěn)定性和測試度。在測試中需要引起注意,。

    2,、如探頭的探針油污等也會引起測試不穩(wěn)，此時可以把探頭在干凈的白紙上滑動幾下擦擦就可以了,。

    3,、如果材料是蒸發(fā)鋁膜等，蒸發(fā)的厚度又太薄的話,，形成的鋁膜不能均勻的連成片,，而是形成點(diǎn)狀分布，此時方塊電阻值會大大增加,，與通過稱重法計(jì)算的厚度和方阻值不樣,，此時就要考慮到加入修正系數(shù)

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