HG13- NanoFirst-2000原子力顯微鏡

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北京北信科遠儀器有限責任公司
2024-05-28 21:06:23
北京市
北京
2769

【簡單介紹】

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應用領域	環(huán)保,綜合

原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學原理為基礎，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。

【詳細說明】

原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針

型號：HG13- NanoFirst-2000

產(chǎn)品介紹：

（Atomic force microscopy）是一種以物理學原理為基礎,，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般利用探針對樣品掃描,，探針固定在對探針與樣品表面作用力極min感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，zui后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)采集,、處理、形成樣品表面形貌圖像。
產(chǎn)品特點：
計算機全數(shù)字化控制,，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近,，保證實驗圓滿成功,。
深度陡度測量，三維顯示,。
na米材料粗糙度測量,、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。
Ｘ,、Ｙ二維樣品移動平臺,，快速搜索樣品區(qū)域．
標準RS232串行接口,無需ren何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配na米刻蝕功能模塊,。
技術指標:
AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm,；厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標準6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標)
XY二維樣品移動范圍：５mm,；精度0.5微米
掃描器,、針尖座智能識別
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學針尖塊，液電池,，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）

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