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1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...

經(jīng)濟(jì)型數(shù)顯電壓降測(cè)試儀1.插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降.從而判斷接線口優(yōu)劣.2.適用于測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器、開關(guān),、線材線束,、壓接線端子、連接器等...

100A實(shí)用型直流電壓降測(cè)試儀直流恒流源,，電流可測(cè)試到1000A,；數(shù)顯壓降，電流,，電壓,；電流負(fù)載測(cè)量,測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器,、開關(guān),、線材線束、壓接線端子,、連接器等...

200A實(shí)用型直流電壓降測(cè)試儀直流恒流源,，電流可測(cè)試到1000A；數(shù)顯壓降,，電流,，電壓；電流負(fù)載測(cè)量,測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器,、開關(guān),、線材線束、壓接線端子,、連接器等...

300A實(shí)用型直流電壓降測(cè)試儀直流恒流源,，電流可測(cè)試到1000A；數(shù)顯壓降,，電流,，電壓；電流負(fù)載測(cè)量,測(cè)量開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器,、開關(guān)、線材線束,、壓接線端子,、連接器等...

100A綜合型液晶電壓降測(cè)試儀用于電線束、插接器,、開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻,、溫升,、電壓降或負(fù)載測(cè)量，同時(shí)也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.

200A綜合型液晶電壓降測(cè)試儀用于電線束,、插接器,、開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器,、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻,、溫升、電壓降或負(fù)載測(cè)量,，同時(shí)也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.

300A綜合型液晶電壓降測(cè)試儀用于電線束,、插接器、開關(guān)觸點(diǎn),、繼電器,、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升,、電壓降或負(fù)載測(cè)量,，同時(shí)也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.

200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...

400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...

600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...

800高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量...

1000高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅,、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...

1200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè),、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...

1400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅,、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層,、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...

1600高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校,、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷,、硅、鍺單晶（棒料,、晶片）電阻率,、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)...

300KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭,，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻,，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定,；PC軟件界面操作,，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

500KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻,，自動(dòng)加壓,，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作,，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

1000KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭,，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓,，壓力可設(shè)定,；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...

300KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭,，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來分析極片整體電阻,，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定,；PC軟件界面操作,，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...