該儀器用于測(cè)試薄膜材料熱物性參數(shù),。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí)，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同,，因此對(duì)薄膜物性的測(cè)量必須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行,。根據(jù)物體表面溫度按余弦（或正弦）規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｐ汀２捎脺囟炔ǚ▉?lái)測(cè)試薄膜材料的熱物性參數(shù),，由于薄膜是有限厚的一維模型,。在這一狀態(tài)下，當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后,，利用樣品上,、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器于研究薄膜材料熱物性特性,。