日立掃描電鏡是一款功能極其強大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以及進行微觀分析,。 TESCAN MAGNA采用 Triglav™ 型 SEM 鏡筒,，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯,；鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng)具有電子信號過濾能力,，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度。此外,， TESCAN MAGNA 配備肖特基場發(fā)射電子槍,，能夠提供高達 400 nA 的束流，同時 Triglav™型 SEM 鏡筒所具備的出色性能和高穩(wěn)定性,，為微分析和長耗時樣品的分析應用提供了很好的條件,。

日立掃描電鏡低電壓下的優(yōu)異性能和所能獲得的各種圖像襯度，使得它非常適用于不導電樣品的成像,，如陶瓷,、無涂層生物樣品，以及在半導體工業(yè)和新材料研究中應用越來越普遍的光敏樣品,。 TESCAN MAGNA  使用了全新的 TESCAN Essence™ 軟件,，用戶界面友好，可以滿足各類應用需求,，可定制的布局以及自動化的樣品制備功能,，大限度地提升了操作便捷性和工作效率

日立掃描電鏡解決方案
TESCAN *的 Triglav™型 SEM 鏡筒具有三物鏡系統(tǒng) TriLens™ ，與同類設備相比功能更多樣化,。UH-resolution 物鏡提供的超高分辨率非常適合于形貌細節(jié)觀察,，使研究人員能夠更好的分析納米級樣品。全新的高分辨 Analytical 物鏡可實現(xiàn)無漏磁成像,，是磁性樣品觀察和分析（EDS, EBSD）的理想選擇,。第三個物鏡可以實現(xiàn)多種模式觀測，并對束斑形狀進行優(yōu)化,，進而改善成像和分析性能,。