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薄膜測厚儀產(chǎn)品特點
閱讀：406 發(fā)布時間：2019-7-8
薄膜測厚儀產(chǎn)品特點
采用進(jìn)口傳感器,，測厚分辨率高達(dá)0.1微米選用傳動元件，確保了試驗結(jié)果的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性,。
大液晶屏顯示,，操作簡便，配備微型打印機(jī)直接打印試驗報告,。
另外具有電腦通信接口,，通過選購軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲、查詢,、打?。卉浖δ軓?qiáng)大,，可將成組試驗數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進(jìn)行統(tǒng)計,，試結(jié)報告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進(jìn)行傳輸。
典型的基底材料為：
SiGe,、GaAs,、ZnS、ZnSe,、鋁丙烯酸,、藍(lán)寶石、玻璃,、聚碳酸酯,、聚合物、石英,。
儀器具有開放性設(shè)計,，儀器的光纖探頭可很方便地取出，通過儀器附帶的光纖適配器（如圖所示）連接到帶C-mount的顯微鏡（顯微鏡需另配）,，就可以使本測量儀適用于微區(qū)（>10μm,，與顯微鏡放大率有關(guān)）薄膜厚度的測量。
強(qiáng)大的軟件功能：
界面友好,，操作簡便,，用戶點擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測量。便捷快速的保存,、讀取測量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大,，可同時測量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù),。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫中包含了大量常規(guī)的材的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù),。用戶可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫,。
采用進(jìn)口傳感器,，測厚分辨率高達(dá)0.1微米選用傳動元件，確保了試驗結(jié)果的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性,。
大液晶屏顯示,，操作簡便，配備微型打印機(jī)直接打印試驗報告,。
另外具有電腦通信接口,，通過選購軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲、查詢,、打?。卉浖δ軓?qiáng)大,，可將成組試驗數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進(jìn)行統(tǒng)計,，試結(jié)報告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進(jìn)行傳輸。
典型的基底材料為：
SiGe,、GaAs,、ZnS、ZnSe,、鋁丙烯酸,、藍(lán)寶石、玻璃,、聚碳酸酯,、聚合物、石英,。
儀器具有開放性設(shè)計,，儀器的光纖探頭可很方便地取出，通過儀器附帶的光纖適配器（如圖所示）連接到帶C-mount的顯微鏡（顯微鏡需另配）,，就可以使本測量儀適用于微區(qū)（>10μm,，與顯微鏡放大率有關(guān)）薄膜厚度的測量。
強(qiáng)大的軟件功能：
界面友好,，操作簡便,，用戶點擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測量。便捷快速的保存,、讀取測量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大,，可同時測量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù),。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫中包含了大量常規(guī)的材的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù),。用戶可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫,。