HAST高加速壽命試驗箱：塑封器件具有體積小、重量輕,、成本低,、電性能指標優(yōu)良等特點。在發(fā)達國家塑封器件的發(fā)展早已成熟,取代陶瓷封裝器件的趨勢已定,發(fā)達國家早在多年前便已成功地將塑封器件應用在許多軍工電子設備中,。而在我國,由于缺乏軍工塑封器件生產(chǎn)線,國內(nèi)工業(yè)級塑封線不能*符合軍工級標準,因此HAST高加速老化試驗在塑封器件中起到舉足輕重的作用,，以溫度和濕度為基礎加速新式集成電路的失效，加快塑封器件的發(fā)展應用,。

什么是HAST高加速老化測試,？

   HAST高加速壽命試驗箱：高度加速的溫度和濕度壓力測試（HAST）是一個高度加速，以溫度和濕度為基礎的電子元件可靠性試驗方法,。隨著進來電子技術的高速發(fā)展,，幾年前剛剛出現(xiàn)的加速試驗可能不再適應當今的技術了，尤其是那些專門針對微電子產(chǎn)品的加速試驗,。例如,，由于塑料集成電路包的發(fā)展，現(xiàn)在用傳統(tǒng)的,、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效,。在大多數(shù)情況下，試驗樣本在整個試驗中不發(fā)生任何失效,。因此,，需要進一步改進加速試驗,。HAST就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發(fā)的方法。

HAST高加速老化測試參考標準

IEC 60068-2-66:1994,、GB/T 2423.40-2013,、JESD22-A102-D、JESD22-A110-D,、JESD22-A118-A

HAST高加速老化測試參考方法

測試設備：HAST高壓加速老化試驗箱

HAST試驗箱適用于IC封裝,，半導體，微電子芯片,，磁性材料及其它電子零件進行高壓,、高溫、不飽和/飽和濕熱,、等加速壽命信賴性試驗,，使用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),。測試其制品的密封性和老化性能,。

HAST的測試是在特定的溫度和相對溫度下進行濕度或壓力。大氣通常具有至少100℃的溫度,，在a水蒸汽加壓狀態(tài),。有飽和和HAST的不飽和品種。前者通常在121℃和100%RH的條件下完成,，后者在110,、120或130℃和85%RH的條件下，完成測試電子元件的通電通常是不飽和類型,。

以下試驗要求參照標準：GBT 2423.40-2013(IEC 60068-2-66) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱