一,、CMOS全譜直讀光譜分析儀技術(shù)特點

1,、儀器光學(xué)系統(tǒng)采用帕型-龍格裝置，高真空,，分辨率高,、靈敏度高等特點；由于機刻光柵可以產(chǎn)生較好的光譜,，所以選線更具靈活性，從而避免光譜干擾,；

2,、儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計合理，電子系統(tǒng)高度集成化電路,，故障率低,；

3、分析速度快,、重復(fù)性好,、穩(wěn)定性好；

4,、可用于多種基體分析： Fe,、Co、Cu,、Ni,、Al、Pb,、Mg,、Zn、Sn等,；

5,、采用純中文Windows系統(tǒng)下的操作軟件，操作簡單易懂,；

6,、計算機軟件建有數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)，方便了測量數(shù)據(jù)的查詢與打印,，也可通過網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程傳輸數(shù)據(jù),，方便快捷；

7,、各項系統(tǒng)獨立供電,，組成單元，使用方便,，維護簡單,；

8,、采用光學(xué)部分恒溫措施，保證了儀器的正常運行,，從而降低了對環(huán)境的要求,；

9、加,、改變元素通道,，通過軟件設(shè)置就可以，無須添加任何硬件,，省心,、省時、省錢

10,、分析速度快捷,，30秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料,，通過設(shè)置預(yù)燃時間及標(biāo)線,，使儀器用較短的時間達(dá)到好的分析效果；

11,、光譜儀光學(xué)系統(tǒng)采用真空,、恒溫光室， 激發(fā)時產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室,，實現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗,，提高檢出限，測定結(jié)果準(zhǔn)確,，重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性較佳,；

12、自動光路校準(zhǔn),，光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描,，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作,。儀器自動識別特定譜線,，與原存儲線進(jìn)行對比，確定漂移位置,，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定,；

13、開放式的電極架設(shè)計,，可以調(diào)整的樣品夾,，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；

14,、工作曲線采用標(biāo)樣,，預(yù)做工作曲線,，可根據(jù)需要延伸及擴展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成,，自動扣除干擾,；

15、激發(fā)能量,、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源,，適應(yīng)各種不同材料；

16,、固態(tài)吸附阱,，防止油氣對光室的污染，提高長期運行穩(wěn)定性,；

17、合理的氬氣氣路設(shè)計,，使樣品激發(fā)時氬氣沖洗時間縮短,，為用戶節(jié)省氬氣，氬氣消耗不到普通光譜儀的一半,；

18,、高性能DSP及ARM處理器，具有超高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動實時監(jiān)測光室溫度,、真空度,、氬氣壓力、光源,、激發(fā)室等模塊的運行狀況,。

二、CMOS全譜直讀光譜分析儀參數(shù)

2.1光學(xué)系統(tǒng)

光學(xué)結(jié)構(gòu)：帕邢-龍格結(jié)構(gòu)的全譜光學(xué)系統(tǒng)

波長范圍：160-680nm

光柵焦距：350nm

光柵刻線：3600/mm

一級光譜線色散率：1.1 nm/mm

光電檢測器：多塊高性能線陣CMOS

2.2 激發(fā)臺

本激發(fā)臺采用沖氬式,，噴射式電極結(jié)構(gòu),，帶有自動吹掃功能。激發(fā)臺開孔尺寸13mm,。

2.3 激發(fā)光源

類型：全數(shù)字式火花激發(fā)光源

頻率：100-1000Hz

放電電流：脈沖1-400A

2.4 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

ARM處理器,，高速數(shù)據(jù)同步采集處理，基于DM9000A的以太數(shù)據(jù)傳輸,。