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上海海向儀器設(shè)備廠
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當(dāng)前位置:上海海向儀器設(shè)備廠>>試驗箱>>快溫變試驗箱>> KB-50海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導(dǎo)體

海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導(dǎo)體

參   考   價: 20000

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號KB-50

品       牌海向儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時間:2024-12-04 09:32:16瀏覽次數(shù):1082次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 1萬-2萬
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,綜合 內(nèi)膽尺寸 360*350*400mm?(寬*深*高)
溫度范圍 -40℃~150℃ 降溫速度 6℃/min
電源電壓 220V/50HZ
該設(shè)備適用于學(xué)校,工廠,,軍工,,科研單位,實驗室,、高校等單位,,來檢測各種電子元氣件在高溫,低溫或高低溫交替環(huán)境下的各項性能指標(biāo),、貯存和使用的適應(yīng)性,。
(海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導(dǎo)體)

一、產(chǎn)品概述:

該設(shè)備適用于學(xué)校,,工廠,,軍工,科研單位,,實驗室,、高校等單位,來檢測各種電子元氣件在高溫,,低溫或高低溫交替環(huán)境下的各項性能指標(biāo),、貯存和使用的適應(yīng)性,。

.

二、技術(shù)參數(shù):

型號/名稱

KB-50快溫變試驗箱

內(nèi)膽尺寸

360*350*400mm (**)

溫度范圍

40℃150℃

溫度波動度

±0.5℃

溫度均勻度

±1℃

降溫速度

6/min

電源電壓

220V/50HZ

 

海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導(dǎo)體

三,、箱體結(jié)構(gòu):

l  箱體造型美觀大方,,采用數(shù)控機床加工成型,并采用無反作用把手,,操作簡便,。

l  箱體內(nèi)膽采用高級不銹鋼(SUS304)鏡面板,箱體采用冷軋鋼板靜電噴塑,,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度,。

l  大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃,,隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況,。箱體左側(cè)配有測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用,。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時說明),。機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪。

 

四,、控制系統(tǒng):

l  7寸可程式彩色觸摸控制器,。

l  采用大屏觸摸屏模式熒幕畫面、熒幕操作簡單,、程式編輯容易,。

l  控器操作界面設(shè)中英文可供選擇、即使運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示,。

l  具有100組程式1000999循環(huán)步驟的容量,、每段時間設(shè)定值為99小時59分鐘。

l  資料及試驗條件輸入后,、控制器具有熒屏鎖定功能,、避免人為觸摸而停機。

l  具有PID自動演算功能,、可將溫度變化條件立即修正,、使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

l  具有RS-232RS-485通訊界面,、可在電腦上設(shè)計程式,、監(jiān)控試驗過程并執(zhí)行開關(guān)機功能。

l  可連接打印機或485通訊接口,、用電腦顯示,、并打印溫度和時間曲線、為試驗過程數(shù)據(jù)儲存于回放提供有力保證。

 

五,、制冷系統(tǒng):

l  制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機,。

l  冷凍系統(tǒng)采用單機低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。

l  采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),,避免任何死角,,可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。

l  風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,,風(fēng)壓,、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快,。

l  升溫,、降溫獨立可提高效率,降低測試成本,,增長壽命,,減低故障率。

 

六,、符合標(biāo)準(zhǔn):

l  GB-2423.1-89IEC68-2-1)試驗 A:低溫試驗方法,。

l  GB-2423.2-89IEC68-2-2)試驗 B:高溫試驗方法。

l  GJB360.8-87MIL-STD-202F)高溫壽命試驗,。

l  GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法,。

l  GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

l  GB/T 2423.2-2008 試驗 B《高溫試驗方法》

l  GB10586-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A:低溫試驗方法

l  GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A:高溫試驗方法

l  IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

l  IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導(dǎo)體

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