產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng) 粒子計(jì)數(shù)儀,，為一種圖像法粒度分布測(cè)試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng),，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、圖像測(cè)試 CCD 攝像頭,、三維立體載物平臺(tái),、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦,、打印機(jī)等部分組成,；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段,。

電子半導(dǎo)體清潔度分析系統(tǒng) 粒子計(jì)數(shù)儀優(yōu)勢(shì)：

測(cè)試軟件具有審計(jì)追蹤,、權(quán)限管控、電子記錄,、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),、計(jì)量驗(yàn)證、報(bào)告模板,、圖像存儲(chǔ),、顆粒追蹤、報(bào)告輸出,、清潔度分析等功能,；

全面自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)選擇,、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計(jì)數(shù),，或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù),，自動(dòng)顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級(jí),；

將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物,；

軟件控制分析過(guò)程，手動(dòng)對(duì)焦,，手動(dòng)光強(qiáng)（顆粒清潔度測(cè)試必須人為干預(yù)進(jìn)行）,，自動(dòng)掃描，自動(dòng)攝入,，自動(dòng)分析,；

數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動(dòng)膜片掃描系統(tǒng),，無(wú)縫拼接,，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng),；

顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析,；

引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位,，快速聚焦,，體驗(yàn)極速無(wú)卡頓測(cè)試。

顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果,；

直觀,、形象、準(zhǔn)確,、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別,、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn),；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷,，擴(kuò)展檢測(cè)范圍；

現(xiàn)實(shí)NAS,、ISO等標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可,；

提供行業(yè)*的“OIL17服務(wù)星”簽約式服務(wù)；

產(chǎn)品應(yīng)用：

航空,、航天,、電力、石油、化工,、交通,、港口、冶金,、機(jī)械,、汽車制造、制冷,、電子,、半導(dǎo)體、工程機(jī)械,、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域,；

對(duì)各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續(xù)相測(cè)試）,。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

0.1~3000μm的超寬范圍,、超高分辨率。

可根據(jù)客戶要求,，植入相應(yīng)“圖像法顆粒度”測(cè)試和評(píng)判標(biāo)準(zhǔn),。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號(hào)：PLD-MPCS2.0

訂制要求：各類液體檢測(cè)要求,；

測(cè)試范圍:  1μm-500μm

放大倍數(shù)：40X～l000X倍   

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：500萬(wàn)~1800萬(wàn)像素

分析項(xiàng)目：粒度分布,、長(zhǎng)徑比分布、圓形度分布等

自動(dòng)分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）,；

分 辨 率：>95%

售后服務(wù)：普洛帝中國(guó)服務(wù)中心/普研檢測(cè),。